[發(fā)明專利]半導(dǎo)體封裝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610810326.X | 申請(qǐng)日: | 2016-09-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106910732A | 公開(公告)日: | 2017-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周哲雅;許文松;陳南誠(chéng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 聯(lián)發(fā)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/498 | 分類號(hào): | H01L23/498;H01L23/538 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹市*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 封裝 | ||
1.一種半導(dǎo)體封裝,其特征在于,包括:
基座;
多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu);以及
半導(dǎo)體元件,通過該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)接合至該基座;
其中,該半導(dǎo)體元件包括:
載體基底;
多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu);以及
第一半導(dǎo)體主體,通過該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)接合至該載體基底;
其中,該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)分別設(shè)置在該載體基底的兩相對(duì)表面上;
其中,該載體基底及該基座均為該第一半導(dǎo)體主體的扇出結(jié)構(gòu)。
2.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,進(jìn)一步包括:
多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu),接合在該基座上,并且該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和該多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu)分別設(shè)置在該基座的兩相對(duì)表面上。
3.如權(quán)利要求2所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的尺寸大于該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的尺寸且小于該多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的尺寸。
4.如權(quán)利要求2所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距大于該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距,且小于該多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距。
5.如權(quán)利要求2所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距與該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距之比值介于5~9之間,并且該多個(gè)第三導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距與該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)之間的間距之比值大于1且小于等于3。
6.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該半導(dǎo)體元件進(jìn)一步包括:
模塑料,設(shè)置在該載體基底上,并且圍繞該第一半導(dǎo)體主體及該多個(gè)第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求6所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,進(jìn)一步包括:
底膠填充材質(zhì),設(shè)置在該基座上,并且圍繞該半導(dǎo)體元件及該多個(gè)第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu),以及填充該半導(dǎo)體元件與該基座之間的間隙。
8.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該載體基底的寬度大于該第一半導(dǎo)體主體的寬度,且小于該基座的寬度。
9.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該第一半導(dǎo)體主體為半導(dǎo)體晶粒。
10.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該半導(dǎo)體元件還包括:
第二半導(dǎo)體主體,與該第一半導(dǎo)體主體并排設(shè)置在該載體基底上或者堆疊在該第一半導(dǎo)體主體上。
11.如權(quán)利要求10所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該第一半導(dǎo)體主體使用倒裝芯片方式接合至該載體基底;
當(dāng)該第二半導(dǎo)體主體與該第一半導(dǎo)體主體并排設(shè)置在該載體基底上時(shí),該第二半導(dǎo)體主體使用倒裝芯片或者線接合方式接合至該載體基底;
當(dāng)該第二半導(dǎo)體主體堆疊在該第一半導(dǎo)體主體上時(shí),該第二半導(dǎo)體主體使用線接合方式接合至該載體基底。
12.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,進(jìn)一步包括:
散熱基座,通過黏合層附著至該基座,并且覆蓋該半導(dǎo)體元件。
13.如權(quán)利要求12所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,進(jìn)一步包括:
散熱界面材料,位于該散熱基座與該半導(dǎo)體元件之間。
14.如權(quán)利要求1所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該載體基底包括:導(dǎo)線,該第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)直接接合在該導(dǎo)線上。
15.如權(quán)利要求14所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,
該導(dǎo)線為細(xì)長(zhǎng)形的;
或者,該導(dǎo)線用于攜帶輸入/輸出信號(hào)、接地信號(hào)或電源信號(hào)穿過該載體基底的至少一部分;
或者,該導(dǎo)線的頂面位于該載體基底面向該半導(dǎo)體主體的表面的上方、下方或者對(duì)齊;
或者,該導(dǎo)線的寬度小于該第一半導(dǎo)體主體上的連接至該第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的接墊的寬度;
或者,該導(dǎo)線的形狀不同于該第一半導(dǎo)體主體上的連接至該第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的接墊的形狀。
16.如權(quán)利要求14所述半導(dǎo)體封裝,其特征在于,該第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包括:焊錫蓋層,直接接觸該導(dǎo)線;
或者,該第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包括:寬度大于該導(dǎo)線的寬度的銅層和/或?qū)挾却笥谠搶?dǎo)線的寬度的焊錫蓋層。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于聯(lián)發(fā)科技股份有限公司,未經(jīng)聯(lián)發(fā)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610810326.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





