[發明專利]多窗口圖像特征點統計方法和裝置

有效

• 申請號: 201610779446.8
• 申請日: 2016-08-30
• 公開（公告）號: CN107784256B
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 王荔枝
• 申請（專利權）人: 合肥君正科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/46
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 劉向輝;王凝

本發明提供了一種多窗口圖像特征點統計方法和裝置，其中，該方法包括：設置多個檢測窗口；確定所述多個檢測窗口的最小外接矩形，并將所述最小外接矩形與待識別圖像的交集作為最小外接窗口；以所述最小外接窗口作為約束，構建所述待識別圖像中各個特征點相對于所述多個檢測窗口的行掩膜和列掩膜；根據所述行掩膜和所述列掩膜，統計所述待識別圖像中落在各個窗口內的特征點的個數。在本發明實施例中，因為在特征點統計前構建了行掩膜和列掩膜，在統計的時候不需要再進行判斷操作，也不需要存儲特征圖像，降低了算法時間復雜度和空間復雜度，達到了節省系統資源，提高統計效率的目的。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，特別涉及一種多窗口圖像特征點統計方法和裝置。

背景技術

隨著圖像識別技術的不斷發展，以及人們對圖像識別技術的需求越來越大，圖像識別等也在逐步影響著人們的生活。圖像特征點識別是圖像識別中較為重要的一環，目前，圖像的特征點識別有多窗口的，也有單窗口的，多窗口的比單窗口的方式效率要高很多，但是對處理器性能的要求也要高很多。

目前，多窗口圖像特征點統計方法主要有以下幾種方式：

方式1)先掃描圖像進行預處理得到所有像素點的特征圖像，然后再統計特征點落在各個窗口內的數目；

方式2)計算每個窗口對應的特征圖像并計數，該方法不需要存儲特征圖像；

方式3)判斷每個計算得到的特征點是否落在各個窗口內，如果在，則將該窗口的統計值加1，該方法不需要存儲特征圖像，也避免了重復計算特征值。

然而，上述方式1需要存儲特征圖像，消耗了一部分內存，窗口外的特征圖像計算是不必要的，窗口重疊部分被重復掃描，從而造成了資源浪費。上述方式2重復計算比較多，特別是當圖像預處理部分的算法復雜度比較高時，效率很低，即使圖像預處理實現簡單，當窗口重疊時，重疊部分的特征值計算也是重復的。上述方式3條件判斷語句比較多，不利于SIMD數據并行。

針對上述問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種多窗口圖像特征點統計方法，以達到節省系統資源，提高統計效率的目的，該方法包括：

設置多個檢測窗口；

確定所述多個檢測窗口的最小外接矩形，并將所述最小外接矩形與待識別圖像的交集作為最小外接窗口；

以所述最小外接窗口作為約束，構建所述待識別圖像中各個特征點相對于所述多個檢測窗口的行掩膜和列掩膜；

根據所述行掩膜和所述列掩膜，統計所述待識別圖像中落在各個窗口內的特征點的個數。

在一個實施方式中，一個特征點的行掩膜的比特數等于檢測窗口的個數，一個特征點的列掩膜的比特數等于檢測窗口的個數。

在一個實施方式中，以所述最小外接窗口作為約束，構建所述待識別圖像中各個特征點相對于所述多個檢測窗口的行掩膜和列掩膜，包括：

按照以下的邏輯運算公式構建行掩膜：

f_j(k)＝(j＞＝R_ky)(j＜R_ky_end)

Rmask[j]＝(f_j(k)＜＜k)|(f_j(k-1)＜＜(k-1))|…|f_j(0)