[發明專利]多窗口圖像特征點統計方法和裝置

有效

• 申請號: 201610779446.8
• 申請日: 2016-08-30
• 公開（公告）號: CN107784256B
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 王荔枝
• 申請（專利權）人: 合肥君正科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/46
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 劉向輝;王凝

1.一種多窗口圖像特征點統計方法，其特征在于，包括：

設置多個檢測窗口；

確定所述多個檢測窗口的最小外接矩形，并將所述最小外接矩形與待識別圖像的交集作為最小外接窗口；

以所述最小外接窗口作為約束，構建所述待識別圖像中各個特征點相對于所述多個檢測窗口的行掩膜和列掩膜；

根據所述行掩膜和所述列掩膜，統計所述待識別圖像中落在各個窗口內的特征點的個數；

以所述最小外接窗口作為約束，構建所述待識別圖像中各個特征點相對于所述多個檢測窗口的行掩膜和列掩膜，包括：

按照以下的邏輯運算公式構建行掩膜：

f_j(k)＝(j＞＝R_ky)(j＜R_ky_end)

Rmask[j]＝(f_j(k)＜＜k)|(f_j(k-1)＜＜(k-1))|...|f_j(0)

其中，f_j(k)表示第j行是否落在第k個檢測窗口R(k)內，R_ky表示第k個檢測窗口R(k)的起始行號，R_ky_end表示第k個檢測窗口R(k)的終止行號，k取值為0到N-1，其中，N表示檢測窗口的個數，＜＜表示向左的邏輯移位，j＝R_miny,R_miny+1,...,R_miny_end-1，R_miny表示最小外接窗口的起始行號，Rmask表示行掩膜，表示邏輯與運算；

按照以下的邏輯運算公式構建列掩膜：

f_i(k)＝(i＞＝R_kx)(i＜R_kx_end)

Cmask[i]＝(f_i(k)＜＜k)|(f_i(k-1)＜＜(k-1))|...|f_i(0)

其中，f_i(k)表示第i列是否落在第k個檢測窗口R(k)內，R_kx表示第k個檢測窗口R(k)的起始列號，R_kx_end表示第k個檢測窗口R(k)的終止列號，k取值為0到N-1，其中，N表示檢測窗口的個數，i＝R_minx,R_minx+1,...,R_minx_end-1，R_minx表示最小外接窗口的起始列號，Cmask表示列掩膜；

根據所述行掩膜和所述列掩膜，統計所述待識別圖像中落在各個窗口內的特征點的個數，包括：

按照以下的邏輯運算公式統計所述待識別圖像落在第k個檢測窗口R(k)內的特征點的個數：

sum(k)+＝1((Rmask[j]Cmask[i])＞＞k)

其中，sum(k)表示落在第k個檢測窗口R(k)內的特征點的個數的統計值，表示位與運算，＞＞表示向右的邏輯移位。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，一個特征點的行掩膜的比特數等于檢測窗口的個數，一個特征點的列掩膜的比特數等于檢測窗口的個數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，通過SMID算法統計所述待識別圖像中落在各個窗口內的特征點的個數。