[發明專利]一種保護芯片測試模式的方法和裝置

有效

• 申請號: 201610703536.9
• 申請日: 2016-08-22
• 公開（公告）號: CN106326781B
• 公開（公告）日: 2019-04-19
• 發明（設計）人: 田圓;高洪福
• 申請（專利權）人: 大唐微電子技術有限公司;大唐半導體設計有限公司
• 主分類號: G06F21/77
• 分類號: G06F21/77;G06F21/75
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 胡艷華;栗若木

本發明公開了一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E?fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E?fuse模塊的預定存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼。本發明能夠防止攻擊者進入芯片的測試模式。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，尤其涉及的是一種保護芯片測試模式的方法和裝置。

背景技術

芯片一般都會有一個測試模式，這是在制造芯片的過程中檢驗芯片用的，用于在晶圓上或封裝后的芯片執行內部測試程序所用。測試模式往往允許使用那些在芯片實際應用中嚴格禁止的訪問類型。此外，例如掃描鏈這樣的測試電路，可以使工程師在拿到芯片后對芯片內部的寄存器狀態進行控制，這樣就很容易讀出芯片內部的數據。但是對芯片檢測而言，這些又是不可避免的。因此，在芯片出廠后，就必須禁止芯片從工作模式向測試模式的轉換。

為了防止非法用戶進入到測試模式，通常將控制芯片進入測試模式的信號線放入劃片槽中，芯片完成測試后，在封裝芯片的時候，通過劃片將該信號線劃斷，使芯片無法再進入到測試模式。

隨著對智能卡芯片的攻擊手段的迅速發展，攻擊者可以定位到劃片槽中熔絲(fuse)的位置，再利用聚焦粒子束(Focused Ion beam，FIB)技術重新連接被劃斷的信號線，使芯片再次進入測試模式，從而獲得芯片中的重要信息。

因此，在芯片封裝后，如何限制進入芯片測試模式，是需要解決的問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種保護芯片測試模式的方法和裝置，能夠防止攻擊者進入芯片的測試模式。

本發明實施例提供一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：

在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；

在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的預定存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼。

本發明實施例還提供一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：

在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的第一存儲位置的比特位串作為保護碼，在所述E-fuse模塊的第二存儲位置寫入密鑰，在所述E-fuse模塊的第三存儲位置寫入第一密文；

在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的第一存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，從所述E-fuse模塊的第二存儲位置讀取所述密鑰，從所述E-fuse模塊的第三存儲位置讀取所述第一密文，從所述芯片中的其他存儲模塊中讀取明文，利用所述密鑰對所述明文進行加密獲得第二密文；如果所述第二密文與所述第一密文不相同，則禁止所述芯片進入測試模式；如果所述第二密文與所述第一密文相同，則允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼，或者，更改所述保護碼和所述密鑰。

本發明實施例還提供一種保護芯片測試模式的裝置，包括：

初始化模塊，用于在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；