[發(fā)明專利]一種保護芯片測試模式的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610703536.9
• 申請日: 2016-08-22
• 公開（公告）號: CN106326781B
• 公開（公告）日: 2019-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 田圓;高洪福
• 申請（專利權(quán)）人: 大唐微電子技術(shù)有限公司;大唐半導體設(shè)計有限公司
• 主分類號: G06F21/77
• 分類號: G06F21/77;G06F21/75
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 胡艷華;栗若木

本發(fā)明公開了一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E?fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E?fuse模塊的預定存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼。本發(fā)明能夠防止攻擊者進入芯片的測試模式。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及的是一種保護芯片測試模式的方法和裝置。

背景技術(shù)

芯片一般都會有一個測試模式，這是在制造芯片的過程中檢驗芯片用的，用于在晶圓上或封裝后的芯片執(zhí)行內(nèi)部測試程序所用。測試模式往往允許使用那些在芯片實際應用中嚴格禁止的訪問類型。此外，例如掃描鏈這樣的測試電路，可以使工程師在拿到芯片后對芯片內(nèi)部的寄存器狀態(tài)進行控制，這樣就很容易讀出芯片內(nèi)部的數(shù)據(jù)。但是對芯片檢測而言，這些又是不可避免的。因此，在芯片出廠后，就必須禁止芯片從工作模式向測試模式的轉(zhuǎn)換。

為了防止非法用戶進入到測試模式，通常將控制芯片進入測試模式的信號線放入劃片槽中，芯片完成測試后，在封裝芯片的時候，通過劃片將該信號線劃斷，使芯片無法再進入到測試模式。

隨著對智能卡芯片的攻擊手段的迅速發(fā)展，攻擊者可以定位到劃片槽中熔絲(fuse)的位置，再利用聚焦粒子束(Focused Ion beam，F(xiàn)IB)技術(shù)重新連接被劃斷的信號線，使芯片再次進入測試模式，從而獲得芯片中的重要信息。

因此，在芯片封裝后，如何限制進入芯片測試模式，是需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種保護芯片測試模式的方法和裝置，能夠防止攻擊者進入芯片的測試模式。

本發(fā)明實施例提供一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：

在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；

在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的預定存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼。

本發(fā)明實施例還提供一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：

在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的第一存儲位置的比特位串作為保護碼，在所述E-fuse模塊的第二存儲位置寫入密鑰，在所述E-fuse模塊的第三存儲位置寫入第一密文；

在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的第一存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，從所述E-fuse模塊的第二存儲位置讀取所述密鑰，從所述E-fuse模塊的第三存儲位置讀取所述第一密文，從所述芯片中的其他存儲模塊中讀取明文，利用所述密鑰對所述明文進行加密獲得第二密文；如果所述第二密文與所述第一密文不相同，則禁止所述芯片進入測試模式；如果所述第二密文與所述第一密文相同，則允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼，或者，更改所述保護碼和所述密鑰。

本發(fā)明實施例還提供一種保護芯片測試模式的裝置，包括：

初始化模塊，用于在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的預定存儲位置的比特位串作為保護碼；