[發明專利]一種保護芯片測試模式的方法和裝置

有效

• 申請號: 201610703536.9
• 申請日: 2016-08-22
• 公開（公告）號: CN106326781B
• 公開（公告）日: 2019-04-19
• 發明（設計）人: 田圓;高洪福
• 申請（專利權）人: 大唐微電子技術有限公司;大唐半導體設計有限公司
• 主分類號: G06F21/77
• 分類號: G06F21/77;G06F21/75
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 胡艷華;栗若木

1.一種保護芯片測試模式的方法，該方法包括：

在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的第一存儲位置的比特位串作為保護碼，在所述E-fuse模塊的第二存儲位置寫入密鑰，在所述E-fuse模塊的第三存儲位置寫入第一密文；

在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的第一存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，從所述E-fuse模塊的第二存儲位置讀取所述密鑰，從所述E-fuse模塊的第三存儲位置讀取所述第一密文，從所述芯片中的其他存儲模塊中讀取明文，利用所述密鑰對所述明文進行加密獲得第二密文；如果所述第二密文與所述第一密文不相同，則禁止所述芯片進入測試模式；如果所述第二密文與所述第一密文相同，則允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼，或者，更改所述保護碼和所述密鑰。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

更改所述保護碼，包括：將所述保護碼的每一個比特位置為1；

更改所述密鑰，包括：將所述密鑰的每一個比特位置為1。

3.一種保護芯片測試模式的裝置，包括：

初始化模塊，用于在芯片進行測試前的初始化時，將所述芯片中的電子可編程熔絲E-fuse模塊的第一存儲位置的比特位串作為保護碼，在所述E-fuse模塊的第二存儲位置寫入密鑰，在所述E-fuse模塊的第三存儲位置寫入第一密文；

測試模式判斷模塊，用于在所述芯片完成測試前的初始化后，從所述E-fuse模塊的第一存儲位置讀取所述保護碼；在所述保護碼不為0時，禁止所述芯片進入測試模式；在所述保護碼為0時，從所述E-fuse模塊的第二存儲位置讀取所述密鑰，從所述E-fuse模塊的第三存儲位置讀取所述第一密文，從所述芯片中的其他存儲模塊中讀取明文，利用所述密鑰對所述明文進行加密獲得第二密文；如果所述第二密文與所述第一密文不相同，則禁止所述芯片進入測試模式；如果所述第二密文與所述第一密文相同，則允許所述芯片進入測試模式，如果要禁止芯片下次進入測試模式，則更改所述保護碼，或者，更改所述保護碼并且更改所述密鑰。

4.如權利要求3所述的裝置，其特征在于：

測試模式保護模塊，用于更改所述保護碼，包括：將所述保護碼的每一個比特位置為1；

測試模式保護模塊，用于更改所述密鑰，包括：將所述密鑰的每一個比特位置為1。