[發明專利]用于識別光學陣列極性并測量光信號功率或損耗的裝置有效
| 申請號: | 201610692380.9 | 申請日: | 2016-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN106468617B | 公開(公告)日: | 2020-06-16 |
| 發明(設計)人: | J.D.謝爾 | 申請(專利權)人: | 弗蘭克公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01J1/42 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周學斌;張濤 |
| 地址: | 美國華*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 識別 光學 陣列 極性 測量 信號 功率 損耗 裝置 | ||
公開了一種用于確定光纖陣列極性的裝置。該裝置可用來確定光信號損耗或強度。可使用適配器來將裝置耦合到多種光纖連接器。該裝置包括位置傳感檢測器和處理電路。該位置傳感檢測器包括接收光信號的傳感器和響應于光信號的接收而輸出各輸出信號的電極。該處理電路接收輸出信號并識別光信號入射在傳感器上的位置。處理電路還確定光纖的光學陣列中的接收位置及基于該接收位置和相應發射位置的光學陣列的極性。所述處理電路可基于輸出信號的聚合體來確定光信號的強度或損耗。
技術領域
本申請針對一種用于識別光學陣列極性和/或測量光信號功率或損耗的設備,以及特別針對使用位置傳感檢測器來執行識別和測量的設備。
背景技術
測量光信號強度的常規設備利用被單獨耦合到光學陣列的每個光纖的光學檢測器。可使用常規設備來測量通過陣列的每個光纖發射的光信號的光學強度。然而,單獨地將設備耦合到每個光纖以便獲得強度測量結果的需要是耗費時間的。
某些常規設備裝備有多個傳感器,由此每個傳感器捕捉從陣列的各光纖接收到的光信號。為了使這些設備適當地工作,傳感器必須分別地與光纖對準。由于光學陣列連接器(諸如多纖維拉式MPO)連接器)是性別(gender)特定的(即,釘扎(pinned)或非釘扎(unpinned))事實,所以要求性別順從設備以便將設備附著到連接器并確保對準。因此,對光學陣列執行現場測試的人員可需要為兩個性別攜帶多個設備。接插線對相反性別的替換使用可在測量結果中引入假象并增加不確定性。此外,這些設備僅可用于某個尺寸的光學陣列(具有特定數目的光纖的行或列)。其不可用來測試在與設備被設計成用于的陣列相比光纖的行或列的數目方面不同的許多其它市售陣列。
發明內容
描述了一種用于確定光纖陣列極性的裝置。該裝置包括位置傳感檢測器。該位置傳感檢測器具有可相對于光學陣列定位的傳感器。傳感器從光學陣列接收入射在傳感器上的許多光信號同時傳感器保持在相對于光學陣列的固定位置上。所述多個光信號源自于形成光學陣列的相應多個光纖,由此,所述多個光纖中的每個光纖相對于光學陣列中的其它光纖而言在光學陣列中具有關聯的發射和接收位置。該位置傳感檢測器具有被電耦合到傳感器的多個電極。所述多個電極響應于由傳感器接收到所述多個光信號中的光信號而輸出相應的多個輸出信號。所述多個輸出信號指示所述多個光信號中的光信號入射在傳感器上的位置。
在實施例中,所述裝置包括被電耦合到所述多個電極的處理電路。處理電路接收用于所述多個光信號中的每一個的所述多個輸出信號,并識別所述多個光信號入射在傳感器上的各位置。處理電路還基于所識別位置來確定所述多個光纖中的至少一個光纖的光學陣列中的接收位置。此外,處理電路基于所述至少一個光纖的所確定的接收位置和所述至少一個光纖的光學陣列中的相應發射位置來確定光學陣列的極性。
還描述了一種用于確定光纖陣列極性的方法。在該方法中,在位置傳感檢測器的傳感器處從光學陣列接收多個光信號。所述多個光信號入射在傳感器上同時傳感器相對于光學陣列保持在固定位置。所述多個光信號源自于形成光學陣列的相應多個光纖,由此,所述傳感器可相對于光學陣列定位,并且所述多個光纖中的每個光纖相對于光學陣列中的其它光纖而言具有關聯的發射和接收位置。
在一個實施例中,位置傳感檢測器的多個電極響應于由傳感器接收到所述多個光信號中的光信號而輸出相應的多個輸出信號。所述多個輸出信號中的每個輸出信號指示所述多個光信號中的光信號入射在傳感器上的位置到所述多個電極中的各電極的接近度。
此外,針對所述多個光信號識別所述多個光信號入射在傳感器上的各位置。基于用于每個接收光信號的相應多個輸出信號來識別各位置。基于所識別位置來確定所述多個光纖中的至少一個光纖的光學陣列中的接收位置。另外,基于所確定的接收位置和所述至少一個光纖的光學陣列中的相應發射位置來確定光學陣列的極性。
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