[發明專利]用于識別光學陣列極性并測量光信號功率或損耗的裝置

有效

• 申請號: 201610692380.9
• 申請日: 2016-08-19
• 公開（公告）號: CN106468617B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: J.D.謝爾
• 申請（專利權）人: 弗蘭克公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J1/42
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 周學斌;張濤

1.一種用于確定光纖陣列極性的裝置，包括：

位置傳感檢測器，其包括：

傳感器，其可相對于光學陣列定位，其中，所述傳感器從光學陣列接收入射在傳感器上的多個光信號同時所述傳感器相對于光學陣列保持在固定位置，所述多個光信號源自于形成光學陣列的相應多個光纖，所述多個光纖中的每個光纖相對于光學陣列中的其它光纖在光學陣列中具有相關聯的發射位置和接收位置；以及

多個電極，其被電耦合到所述傳感器，其中，所述多個電極響應于由所述傳感器接收到所述多個光信號中的光信號而輸出相應多個輸出信號，所述多個輸出信號指示所述多個光信號中的光信號入射在傳感器上的位置；以及

處理電路，其被電耦合到所述多個電極，其中，所述處理電路：

接收用于所述多個光信號中的每一個的所述多個輸出信號；

識別所述多個光信號入射在傳感器上的各位置；

基于已識別位置來確定所述多個光纖中的至少一個光纖的光學陣列中的接收位置；以及

基于所述至少一個光纖的所確定的接收位置和所述至少一個光纖的光學陣列中的相應發射位置來確定光學陣列的極性。

2.權利要求1的裝置，其中，所述處理電路還接收指示所述至少一個光纖的光學陣列中的發射位置的信息。

3.權利要求1的裝置，其中，確定光學陣列的極性還包括確定所述至少一個光纖的所確定的接收位置與相應發射位置之間的偏移。

4.權利要求1的裝置，其中，如果所述至少一個光纖的接收位置與所述至少一個光纖的相應發射位置相同，則光學陣列的極性被確定為是第一類型。

5.權利要求1的裝置，其中，如果所述至少一個光纖的接收位置從所述至少一個光纖的相應發射位置偏移一個位置，則光學陣列的極性被確定為是第二類型。

6.權利要求1的裝置，其中，如果所述至少一個光纖的接收位置從所述至少一個光纖的相應發射位置換位，則光學陣列的極性被確定為是第三類型。

7.權利要求1的裝置，其中，所述處理電路還確定光纖接收位置的順序，以及接收光纖的發射位置的順序，所述多個光信號按光纖接收位置的順序被檢測為源自于光纖，所述多個光信號按光纖發射位置的順序發射到光纖中。

8.權利要求7的裝置，其中，確定光學陣列的極性還包括將接收位置的順序與發射位置的順序相比較以識別各接收和發射位置之間的偏移。

9.權利要求1的裝置，還包括：

接口，其被通信耦合到處理電路，

其中，所述接口接收光學陣列的極性的指示并向用戶指示該極性。

10.權利要求1的裝置，其中，所述裝置可通過具有與光學陣列的連接器相順從的性別或形狀的可互換適配器而選擇性地耦合到光學陣列。

11.權利要求1的裝置，其中：

所述光學陣列在固定位置處被光學耦合到所述裝置同時所述多個光信號入射在傳感器上；以及

所述傳感器由具有光學傳感區域的單個基板形成，所述光學傳感區域具有足以接收所述多個光信號的尺寸同時所述傳感器保持在相對于光學陣列的固定位置。

12.權利要求1的裝置，還包括：

光學系統，其被光學耦合到傳感器和光學陣列，

其中，所述光學系統從光學陣列接收所述多個光信號并使所述多個光信號中的至少一個光信號改向至光學陣列。