[發明專利]一種井壁滲透率計算方法及裝置有效
| 申請號: | 201610656567.3 | 申請日: | 2016-08-11 |
| 公開(公告)號: | CN106323836B | 公開(公告)日: | 2019-01-18 |
| 發明(設計)人: | 李寧;馮周;武宏亮;王克文;馮慶付;張宮 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08;E21B49/00;G06K9/34;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;劉飛 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電成像測井圖像 滲透率 像素點 井壁 計算方法及裝置 測井數據 孔隙度 地層滲透率 碳酸鹽地層 儲層評價 獲取目標 孔隙類型 目標地層 全井 地層 申請 | ||
本申請實施例提供了一種井壁滲透率計算方法及裝置。該方法包括:獲取目標地層的電成像測井圖像及測井數據;根據所述測井數據,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度;根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率;根據所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率,獲得所述目標地層全井段的地層滲透率值。本申請實施例的方法基于電成像測井圖像,同時考慮了井壁中不同位置孔隙類型對滲透率的影響,方法簡單實用,可以準確的獲得碳酸鹽地層井壁滲透率,為有效儲層評價提供了基礎。
技術領域
本發明涉及油田勘探測井技術領域,尤其涉及一種井壁滲透率計算方法及裝置。
背景技術
滲透率參數是油田勘探開發過程中極其重要的參數之一,其計算精度的高低對油田開發效益具有重要影響。由于碳酸鹽巖儲層極強非均質性和各向異性的存在,碳酸鹽巖滲透率的確定一直是測井評價的難題之一。
目前測井計算滲透率主要有以下兩種方法:一是通過巖心實驗資料建立滲透率與孔隙度、粒度中值的擬合經驗公式或多元回歸等數學手段確定。該方法對于相對均質的碎屑巖儲層來說,巖心分析的孔隙度和滲透率通常具有較好的相關性,統計得到的孔滲關系可以求取儲層滲透率,但對于極強非均質性的碳酸鹽巖儲層,通過巖心實驗建立的滲透率響應方程并不能代表整個儲層的滲流能力,其計算精度和適用性差;二是利用雙孔隙介質模型,將碳酸鹽巖儲層滲透率視為基塊孔隙滲透率和裂縫滲透率共同組成,但由于裂縫滲透率一般比基塊孔隙滲透率要大得多,故儲層中有無裂縫,對其平均滲透率影響極大,因此該方法在油田現場實際應用中難以實現,實用性差。
發明內容
本申請實施例提供一種井壁滲透率計算方法及裝置,以準確的獲得碳酸鹽巖地層的滲透率,為有效儲層評價提供基礎。
為達到上述目的,一方面,本申請實施例提供了一種井壁滲透率計算方法,所述方法包括:
獲取目標地層的電成像測井圖像及測井數據;
根據所述測井數據,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度;
根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率;
根據所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率,獲得所述目標地層全井段的地層滲透率值。
進一步地,在根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率之前,還包括:
利用圖像分析技術,識別所述電成像測井圖像中各圖像特征單元對應的地質特征類型,并據此獲得所述電成像測井圖像中每個像素點的地質特征類型;
根據所述電成像測井圖像中每個像素點的地質特征類型,獲取所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透性有效系數;
對應的,根據所述電成像測井圖像中像素點的孔隙度以及滲透性有效系數,計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率。
進一步地,采用以下公式計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率:
式中,PERMi表示電成像測井圖像中像素點的滲透率;φi表示像素點的孔隙度;ka是孔隙度指數;kb是滲透率常數;kei是像素點所屬的地質特征的滲透性有效系數。
進一步地,所述利用圖像分析技術,識別所述電成像測井圖像中各圖像特征單元對應的地質特征類型,包括:
利用圖像分割方法將所述電成像測井圖像分割為三種類型的圖像特征單元,所述三種類型的圖像特征單元為高阻圖像特征單元、過渡圖像特征單元以及高導圖像特征單元;
定量計算所述圖像特征單元的特征參數;
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