[發明專利]一種井壁滲透率計算方法及裝置

有效

• 申請號: 201610656567.3
• 申請日: 2016-08-11
• 公開（公告）號: CN106323836B
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 李寧;馮周;武宏亮;王克文;馮慶付;張宮
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08;E21B49/00;G06K9/34;G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;劉飛

1.一種井壁滲透率計算方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標地層的電成像測井圖像及測井數據；

根據所述測井數據，計算所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度；

根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度，計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率；

根據所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率，獲得所述目標地層全井段的地層滲透率值；其中，

在根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度，計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率之前，還包括：

利用圖像分析技術，識別所述電成像測井圖像中各圖像特征單元對應的地質特征類型，并據此獲得所述電成像測井圖像中每個像素點的地質特征類型；

根據所述電成像測井圖像中每個像素點的地質特征類型，獲取所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透性有效系數；

對應的，根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度，計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率，具體為：

根據所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度以及滲透性有效系數，計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率；

所述根據所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率，獲得所述目標地層全井段的地層滲透率值，包括：

根據所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率，獲得井壁滲透率圖像；

對所述井壁滲透率圖像進行逐深度窗統計，計算每個深度窗的滲透率，獲得所述目標地層全井段的地層滲透率值。

2.如權利要求1所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，采用以下公式計算所述電成像測井圖像中每個像素點的滲透率：

式中，PERM_i表示電成像測井圖像中像素點的滲透率；φ_i表示像素點的孔隙度；ka是孔隙度指數；kb是滲透率常數；ke_i是像素點所屬的地質特征的滲透性有效系數。

3.如權利要求1所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，所述利用圖像分析技術，識別所述電成像測井圖像中各圖像特征單元對應的地質特征類型，包括：

利用圖像分割方法將所述電成像測井圖像分割為三種類型的圖像特征單元，所述三種類型的圖像特征單元為高阻圖像特征單元、過渡圖像特征單元以及高導圖像特征單元；

定量計算所述圖像特征單元的特征參數；

將所述圖像特征單元的特征參數與預設的地質特征類型的特征參數進行對比，獲得所述圖像特征單元對應的地質特征類型。

4.如權利要求3所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，所述特征參數包括：

特征灰度平均值、面積、周長、圓度、寬長比、粒徑、主方向、對比度以及均勻性。

5.如權利要求3所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，所述地質特征類型包括：

低阻裂縫、溶孔、洞穴、泥質條帶、泥質紋層、泥質厚層、誘導縫、縫合線、角礫以及高阻縫。

6.如權利要求1所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，采用以下公式計算每個深度窗的滲透率：

式中，PERM是對應深度窗的滲透率；npixel是深度窗內像素點數；PERM_i像素點的滲透率。

7.如權利要求1所述的井壁滲透率計算方法，其特征在于，采用阿爾奇公式計算所述電成像測井圖像中每個像素點的孔隙度：

其中：φ_i是計算的電成像測井圖像中像素點的孔隙度；a、b是阿爾奇公式中巖性系數；m是地層膠結指數；R_mf是泥漿濾液電阻率；C_i是電成像測井圖像中像素點的電導率值。