[發明專利]一種離軸三反非球面光學系統共基準檢測與加工方法在審
| 申請號： | 201610619953.5 | 申請日： | 2016-08-01 |
| 公開（公告）號： | CN106225712A | 公開（公告）日： | 2016-12-14 |
| 發明（設計）人： | 張學軍;王孝坤;薛棟林;鄭立功;張峰 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京理工大學專利中心11120 | 代理人： | 李愛英;仇蕾安 |
| 地址： | 130033 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 離軸三反非 球面 光學系統 基準 檢測 加工 方法 | ||
【權利要求書】：
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