[發(fā)明專利]一種離軸三反非球面光學(xué)系統(tǒng)共基準(zhǔn)檢測(cè)與加工方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610619953.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-08-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106225712A | 公開(公告)日: | 2016-12-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張學(xué)軍;王孝坤;薛棟林;鄭立功;張峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B11/24 | 分類號(hào): | G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京理工大學(xué)專利中心11120 | 代理人: | 李愛英;仇蕾安 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 離軸三反非 球面 光學(xué)系統(tǒng) 基準(zhǔn) 檢測(cè) 加工 方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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