[發明專利]反相器及其制作方法有效
| 申請號: | 201610591444.6 | 申請日: | 2016-07-22 |
| 公開(公告)號: | CN107644878B | 公開(公告)日: | 2019-09-03 |
| 發明(設計)人: | 竺立強;晁晉予;肖惠 | 申請(專利權)人: | 中國科學院寧波材料技術與工程研究所 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L29/786;H01L29/51;H01L21/84 |
| 代理公司: | 上海一平知識產權代理有限公司 31266 | 代理人: | 竺云;黃麗珍 |
| 地址: | 315201 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反相器 及其 制作方法 | ||
1.一種反相器,其特征在于,包含:晶體管與電阻,其中,
所述晶體管包含:雙電層柵介質層、位于所述雙電層柵介質層的一側的柵電極,以及位于所述雙電層柵介質層的另一側的至少一個側向調控端、溝道、源極與漏極,其中,所述溝道分別與所述源極、所述漏極接觸;并且,所述側向調控端均不與所述溝道、所述源極與漏極電聯通;并且
所述電阻的一端與所述漏極電聯通,另一端用于施加電源電壓VDD;
所述晶體管的柵電極作為輸入端,所述漏極作為輸出端,所述源極接地,至少一個所述側向調控端用于施加固定偏壓Vm,所述固定偏壓Vm用于調整晶體管的閾值電壓。
2.如權利要求1所述的反相器,其特征在于,所述晶體管為底柵型晶體管,其中,絕緣襯底上的導電層作為位于所述雙電層柵介質層一側的底柵電極。
3.如權利要求2所述的反相器,其特征在于,所述側向調控端用于通過調節所述固定偏壓Vm,以及所述底柵電極上施加的輸入電壓,通過所述雙電層柵介質層的雙電層效應,實現對所述溝道的導電性的控制。
4.如權利要求1所述的反相器,其特征在于,所述溝道層獨立地選自下組:氧化銦鋅、銦鎵鋅氧、銦鎢氧化物,并且,所述溝道層厚度為10nm~100nm。
5.如權利要求1所述的反相器,其特征在于,所述源極、漏極、側向調控端獨立地選自下組:
InZnO薄膜、Ag薄膜、Au薄膜、Cu薄膜、InSnO薄膜。
6.如權利要求2或3所述的反相器,其特征在于,所述底柵電極獨立地選自下組:
InZnO薄膜、Ag薄膜、Au薄膜、Cu薄膜、InSnO薄膜。
7.如權利要求1所述的反相器,其特征在于,所述柵介質層采用具有雙電層調控效應的固態電解質,且獨立地選自下組:疏松的氧化物介質膜、海藻酸鈉膜、殼聚糖膜。
8.如權利要求7所述的反相器,其特征在于,所述的具有雙電層調控效應的固態電解質獨立地選自下組:疏松氧化硅薄膜和疏松氧化鋁薄膜。
9.如權利要求8所述的反相器,其特征在于,所述的具有雙電層調控效應的固態電解質的單位面積電容為0.1~100μF/cm2。
10.一種反相器的制作方法,其特征在于,包含以下步驟:
步驟1:提供絕緣襯底,
步驟2:在絕緣襯底的表面上形成底柵電極;
步驟3:在所述底柵電極的表面上形成雙電層柵介質層;
步驟4:在所述雙電層柵介質層上形成圖形化的溝道層、圖形化的源極和漏極,以及至少一個圖形化的側向調控端,其中,所述溝道分別與所述源極、所述漏極接觸,所述側向調控端不與所述溝道、所述源極與漏極電聯通;
步驟5:將一個電阻的一端與所述漏極連接。
11.一種電子產品,其特征在于,所述電子產品包含如權利要求1-5中任一所述的反相器。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





