[發(fā)明專利]電子設(shè)備的框架及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610530241.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-07-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107592770A | 公開(公告)日: | 2018-01-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邸希劍;趙玉奎;金成輝;趙鳴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津三星通信技術(shù)研究有限公司;三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H05K7/18 | 分類號(hào): | H05K7/18;H01Q1/44 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11286 | 代理人: | 王兆賡,張川緒 |
| 地址: | 300385 天津市西青區(qū)微*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子設(shè)備 框架 及其 制造 方法 | ||
1.一種電子設(shè)備的框架,其特征在于,包括:金屬框和注塑體,
其中,金屬框上具有縫隙,注塑體填充所述縫隙,
金屬框的與注塑體相結(jié)合的面上形成有孔,注塑體具有與所述孔對(duì)應(yīng)的凸起,所述凸起填充所述孔。
2.如權(quán)利要求1所述的框架,其特征在于,所述金屬框的與注塑體相結(jié)合的面和所述孔的內(nèi)表面均設(shè)有凹坑,所述凹坑被注塑體填充。
3.如權(quán)利要求1或2所述的框架,其特征在于,所述縫隙沿金屬框的外側(cè)至內(nèi)側(cè)的方向貫通所述金屬框的一個(gè)側(cè)邊。
4.如權(quán)利要求3所述的框架,其特征在于,所述縫隙的數(shù)量至少為一個(gè)。
5.如權(quán)利要求1所述的框架,其特征在于,每個(gè)金屬框的與注塑體相結(jié)合的面上的孔的數(shù)量為20個(gè)至30個(gè)。
6.如權(quán)利要求1或2所述的框架,其特征在于,所述孔的軸向與所述金屬框的與注塑體相結(jié)合的面的夾角為40度至50度。
7.如權(quán)利要求1或2所述的框架,其特征在于,所述孔為通孔和/或盲孔。
8.如權(quán)利要求1或2所述的框架,其特征在于,所述孔的深度為0.6毫米至1.0毫米。
9.如權(quán)利要求1或2所述的框架,其特征在于,所述孔為毫米級(jí)孔。
10.如權(quán)利要求9所述的框架,其特征在于,所述孔的直徑為0.3毫米至0.7毫米。
11.如權(quán)利要求2所述的框架,其特征在于,所述凹坑為納米級(jí)凹坑。
12.一種電子設(shè)備的框架的制造方法,其特征在于,包括:
形成金屬框;
在金屬框上形成縫隙;
在所述金屬框的形成縫隙的截面上形成孔;
在所述縫隙進(jìn)行注塑,形成注塑體,從而所述注塑體填充所述縫隙并具有與所述孔對(duì)應(yīng)的凸起,所述凸起填充所述孔。
13.如權(quán)利要求12所述的制造方法,其特征在于,所述制造方法還包括:
在所述縫隙進(jìn)行注塑之前,在所述金屬框的形成縫隙的截面和所述孔的內(nèi)表面上形成凹坑,從而在形成注塑體后,所述凹坑被注塑體填充。
14.如權(quán)利要求12或13所述的制造方法,其特征在于,所述孔為毫米級(jí)孔。
15.如權(quán)利要求13所述的制造方法,其特征在于,所述凹坑為納米級(jí)凹坑。
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