[發明專利]遺留物判定系統及遺留物判定方法

在審

• 申請號: 201610492375.3
• 申請日: 2016-06-29
• 公開（公告）號: CN107545559A
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發明（設計）人: 李后賢;李章榮;羅治平
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密電子（天津）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司44334
• 代理人: 曾柳燕

技術領域

本發明涉及一種遺留物判定系統及一種遺留物判定方法。

背景技術

在判別某一場景中是否存在遺留物時，通常將所述場景的即時圖像與存儲的所述場景的樣本圖像進行對比，在即時圖像與樣本圖像存在差別時判定所述場景中存在遺留物。當增加一物品豐富所述場景時，所述物品作為一所述場景的一部分將不被移動，所述物品顯然不是遺留物，然而由于樣本圖像是固定不變的，即時圖像將與樣本圖像不一致，將判定所述場景存在遺留物。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種遺留物判定系統及遺留物判定方法，避免將固定在場景的物品判定為遺留物。

一種遺留物判定系統，包括攝像頭，所述遺留物判定系統還包括第一存儲模塊、第一圖像處理模塊、第二存儲模塊、第二圖像處理模塊、比較模塊及判定模塊，所述攝像頭以一速率對一場景進行連續拍攝獲取多個場景圖像，第一圖像處理模塊獲取攝像頭在一預定時間內拍攝的所有場景圖像并將獲取的每一場景圖像的每一像素點的灰度值進行平均，并以場景圖像的每一像素點的灰度平均值作為一第一對比圖像的灰度值得出第一對比圖像，第二圖像處理模塊獲取一預設數量的最新的第一對比圖像并將所述預設數量的每一第一對比圖像的每一像素點的灰度值進行平均，并以第一對比圖像的每一像素點的灰度平均值作為一第二對比圖像的灰度值得出第二對比圖像，比較模塊比較最新的一第一對比圖像與最新的一第二對比圖像是否存在差異，判定模塊根據比較結果判定所述場景中是否存在遺留物。

一種遺留物判定方法，所述方法包括步驟：以一速率對一場景進行連續拍攝獲取多個場景圖像；獲取在一預定時間內拍攝的所有場景圖像并將獲取的每一場景圖像的每一像素點的灰度值進行平均得出場景圖像的每一像素的灰度平均值，并以場景圖像的每一像素點的灰度平均值作為一第一對比圖像的灰度值得出第一對比圖像；獲取一預設數量的最新的第一對比圖像并將所述預設數量的每一第一對比圖像的每一像素點的灰度值進行平均得出第一對比圖像的每一像素點的灰度平均值，并以第一對比圖像的每一像素點的灰度平均值作為一第二對比圖像的灰度值得出第二對比圖像；比較最新的一第一對比圖像與最新的一第二對比圖像是否存在差異；及根據比較結果判定所述場景中是否存在遺留物。

上述遺留物判定系統及遺留物判定方法根據第一對比圖像與第二對比圖像的對比結果判定場景中是否存在遺留物，而不是將某一樣本圖像與一即時圖像進行對比，避免了將固定于場景中的物品判定為遺留物的可能。

附圖說明

圖1為本發明提供的一實施例的一種遺留物判定系統的模塊圖。

圖2為本發明提供的另一實施例的一種遺留物判定系統的模塊圖。

圖3為本發明提供的一實施例的一種遺留物判定方法的流程圖。

圖4為本發明提供的另一實施例的一種遺留物判定方法的流程圖。

主要元件符號說明