[發明專利]用于鼠標電路的功能測試系統及方法

有效

• 申請號: 201610453746.7
• 申請日: 2016-06-22
• 公開（公告）號: CN107526017B
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 黃燕;辛輝;錢文萍;曹旺;馬剛
• 申請（專利權）人: 無錫華潤矽科微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔

本發明涉及一種用于鼠標電路的功能測試系統及方法，其中系統包括主控電路，所述的主控電路包括功能測試模塊，所述的功能測試模塊用以對鼠標電路在測試模式下進行功能測試，并區分測試成功的鼠標電路和測試失敗的鼠標電路，所述的功能測試包括外打指令測試、外部按鍵測試、USB功能測試、RAM測試、ROM測試、DSP測試和PD測試中的至少一種。采用該種結構的用于鼠標電路的功能測試系統及方法，對成品電路進行測試，使得封裝等后續環節中導致失效的電路能夠分離出來，從而減少產品電路的客戶失效反饋；本發明對分離出來的各功能模塊失效電路再次進行分離，并結合上位機實時觀察通信數據，便于設計人員對電路的分析調試，大大節省了研發時間和研發成本。

技術領域

本發明涉及鼠標測試技術領域，尤其涉及鼠標電路功能測試技術領域，具體是指一種用于鼠標電路的功能測試系統及方法。

背景技術

現有技術多為以下解決方案：

(1)在測試工廠對產品進行中測；

(2)對成品電路進行單功能模塊測試，推理分析失效原因。

以上方式主要存在如下缺陷：

(1)產品中測后還需進行封裝等過程，在此過程中有一定的概率導致產品失效；

(2)對成品電路由設計人員進行單功能推理驗證，不僅耗時巨大，加大了生產成本，而且測試不全面，效率較低。

發明內容

本發明的目的是克服了上述現有技術的至少一個缺點，提供了一種能夠實現應用于鼠標電路成品的各功能模塊測試、并將合格成品與殘次品自動分離、對殘次品各功能失效進行區分、并結合上位機分析產品失效原因的用于鼠標電路的功能測試系統及方法。

為了實現上述目的，本發明用于鼠標電路的功能測試系統及方法如下：

該用于鼠標電路的功能測試系統，其主要特點是，所述的系統包括主控電路，所述的主控電路包括功能測試模塊，所述的功能測試模塊用以對鼠標電路在測試模式下進行功能測試，并區分測試成功的鼠標電路和測試失敗的鼠標電路。

較佳地，所述的系統還包括測試機臺和指示裝置，所述的指示裝置用以顯示測試結果；所述的測試機臺用以根據指示裝置的顯示，對測試成功的鼠標電路和測試失敗的鼠標電路進行區分，并且對測試失敗的鼠標電路根據測試失敗的功能項進行區分。

較佳地，所述的主控電路還包括開短路測試模塊，所述的開短路測試模塊用以對鼠標電路進行開短路測試。

較佳地，所述的功能測試包括外打指令測試、外部按鍵測試、USB功能測試、RAM測試、ROM測試、DSP測試和PD測試中的至少一種。

較佳地，所述的功能測試為依次進行外打指令測試、外部按鍵測試、USB功能測試、RAM測試、ROM測試、DSP測試和PD測試。

較佳地，所述的主控芯片為PFGA芯片XC3S250E VQ100。

較佳地，所述的功能測試包括PD測試時，所述的系統還包括測試燈，所述的測試燈用以在PD測試中根據設定條件打開和關閉以使鼠標電路工作在有光照和無光照條件下。

本發明還涉及一種用于鼠標電路的功能測試方法，其特征在于，所述的方法包括如下步驟：

(1)選取一待測試的鼠標電路；

(2)主控電路從測試任務列表中選擇一未處理的測試任務；

(3)主控電路對該鼠標電路進行相應的功能測試，并采集鼠標電路輸出的采樣信號；

(4)主控電路判斷采樣信號是否符合系統預設要求，如果是，則繼續步驟(5)，否則繼續步驟(6)；