[發(fā)明專(zhuān)利]用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610453746.7
• 申請(qǐng)日: 2016-06-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107526017B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃燕;辛輝;錢(qián)文萍;曹旺;馬剛
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 無(wú)錫華潤(rùn)矽科微電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 上海智信專(zhuān)利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔

1.一種用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)包括主控電路，所述的主控電路包括功能測(cè)試模塊，所述的功能測(cè)試模塊用以對(duì)鼠標(biāo)電路在測(cè)試模式下進(jìn)行功能測(cè)試，并輸出各項(xiàng)功能測(cè)試的測(cè)試結(jié)果；

在所述的測(cè)試模式為外打指令測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路向SK1端發(fā)送時(shí)鐘，在每個(gè)時(shí)鐘SK1的下降沿向鼠標(biāo)電路的SK0端發(fā)送測(cè)試指令；

在所述的測(cè)試模式為外部按鍵測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路向SK1端發(fā)送時(shí)鐘，并模擬外部按鍵向鼠標(biāo)電路的SK2、DM、DP端發(fā)送按鍵信號(hào)；

在所述的測(cè)試模式為USB功能測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路通過(guò)自身的DM、DP端向鼠標(biāo)電路中的USB模塊發(fā)送數(shù)據(jù)；

在所述的測(cè)試模式為RAM測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路對(duì)鼠標(biāo)電路的RAM進(jìn)行寫(xiě)入操作；

在所述的測(cè)試模式為ROM測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路向SK1端輸出時(shí)鐘，在時(shí)鐘SK1每個(gè)下降沿時(shí)，鼠標(biāo)電路輸出的ROM存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)；

在所述的測(cè)試模式為DSP測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路使能鼠標(biāo)電路的DSP的寄存器的寫(xiě)功能；

在所述的測(cè)試模式為PD測(cè)試模式的情況下，所述的主控電路向SK2端發(fā)送高頻時(shí)鐘電路作為鼠標(biāo)電路中PD模塊的工作時(shí)鐘。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括測(cè)試機(jī)臺(tái)和指示裝置，所述的指示裝置用以顯示測(cè)試結(jié)果；所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)用以根據(jù)指示裝置的顯示，對(duì)測(cè)試成功的鼠標(biāo)電路和測(cè)試失敗的鼠標(biāo)電路進(jìn)行區(qū)分，并且對(duì)測(cè)試失敗的鼠標(biāo)電路根據(jù)測(cè)試失敗的功能項(xiàng)進(jìn)行區(qū)分。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的主控電路還包括開(kāi)短路測(cè)試模塊，所述的開(kāi)短路測(cè)試模塊用以對(duì)鼠標(biāo)電路進(jìn)行開(kāi)短路測(cè)試。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的功能測(cè)試包括外打指令測(cè)試、外部按鍵測(cè)試、USB功能測(cè)試、RAM測(cè)試、ROM測(cè)試、DSP測(cè)試和PD測(cè)試中的至少一種；或者

所述的功能測(cè)試為依次進(jìn)行外打指令測(cè)試、外部按鍵測(cè)試、USB功能測(cè)試、RAM測(cè)試、ROM測(cè)試、DSP測(cè)試和PD測(cè)試。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的功能測(cè)試包括PD測(cè)試時(shí)，所述的系統(tǒng)還包括測(cè)試燈，所述的測(cè)試燈用以在PD測(cè)試中根據(jù)設(shè)定條件打開(kāi)和關(guān)閉以使鼠標(biāo)電路工作在有光照和無(wú)光照條件下。

6.一種基于權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試方法，其特征在于，所述的方法包括如下步驟：

(1)選取一待測(cè)試的鼠標(biāo)電路；

(2)主控電路從測(cè)試任務(wù)列表中選擇一未處理的測(cè)試任務(wù)；

(3)主控電路對(duì)該鼠標(biāo)電路進(jìn)行相應(yīng)的功能測(cè)試，并采集鼠標(biāo)電路輸出的采樣信號(hào)；

(4)主控電路判斷采樣信號(hào)是否符合系統(tǒng)預(yù)設(shè)要求，如果是，則繼續(xù)步驟(5)，否則繼續(xù)步驟(6)；

(5)主控電路判斷測(cè)試任務(wù)列表中是否還存在未處理的測(cè)試任務(wù)，如果是，則繼續(xù)步驟(2)，否則繼續(xù)步驟(7)；

(6)主控電路判定該鼠標(biāo)電路測(cè)試失??；

(7)主控電路判定該鼠標(biāo)電路測(cè)試成功。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試方法，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括測(cè)試機(jī)臺(tái)和指示裝置，所述的步驟(6)，包括以下步驟：

(6-1)主控電路控制指示裝置顯示測(cè)試失敗，以及測(cè)試失敗的功能項(xiàng)；

(6-2)測(cè)試機(jī)臺(tái)根據(jù)指示裝置顯示的測(cè)試失敗的功能項(xiàng)，將該鼠標(biāo)電路歸入該測(cè)試失敗的功能項(xiàng)的對(duì)應(yīng)類(lèi)別，然后結(jié)束退出；

所述的步驟(7)，包括以下步驟：

(7-1)主控電路控制指示裝置顯示測(cè)試成功；

(7-2)測(cè)試機(jī)臺(tái)根據(jù)指示裝置的顯示，將該鼠標(biāo)電路歸入測(cè)試成功的類(lèi)別，然后結(jié)束退出。