[發(fā)明專利]一種采用微波等離子體炬電離源的電離質(zhì)譜分析方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610447842.0 | 申請日: | 2016-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN105957793B | 公開(公告)日: | 2017-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳煥文;楊美玲;王新晨;樂長高 | 申請(專利權(quán))人: | 東華理工大學(xué) |
| 主分類號: | H01J49/00 | 分類號: | H01J49/00;H01J49/04;H01J49/10;G01N27/64 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 微波 等離子體 電離 譜分析 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電離質(zhì)譜分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種微波等離子體炬電離源及采用該電離源的電離質(zhì)譜分析方法。
背景技術(shù)
質(zhì)譜分析技術(shù)是待測樣品離子化后經(jīng)質(zhì)譜儀檢測質(zhì)荷比和信號響應(yīng)強(qiáng)度進(jìn)而確定待測物結(jié)構(gòu)和含量的方法。由于質(zhì)譜技術(shù)靈敏度高、分析速度快、耗樣量少等優(yōu)點,而被廣泛應(yīng)用于石油化工、食品醫(yī)藥安全、公共安全、代謝組學(xué)、地質(zhì)科學(xué)等領(lǐng)域。
電離源作為質(zhì)譜儀一個非常重要的部分,主要用于將待測物質(zhì)由分子形態(tài)轉(zhuǎn)化為離子形態(tài),被質(zhì)譜大師R.G.Cooks教授認(rèn)為是質(zhì)譜儀器的心臟。在質(zhì)譜發(fā)展過程中傳統(tǒng)的電離質(zhì)譜技術(shù)包括:電感耦合等離子體質(zhì)譜(Induced coupled plasma mass spectrometry,ICP-MS),化學(xué)電離技術(shù)(Chemical Ionization Source,CI),解吸電離技術(shù)(Desorption Ion Source,DI),電子轟擊電離技術(shù)(Electron Impact Ion Source,EI),噴霧電離技術(shù)(Spray Ionization,SI),以及后來基于此發(fā)展起來的ESI、MALDI和常壓化學(xué)電離技術(shù)(APCI)等。在高通量、無損和反應(yīng)監(jiān)測的分析過程中,這些常壓電離源已經(jīng)被用于從小分子到大分子物質(zhì)的各種化合物分析中。科技在進(jìn)步,技術(shù)也朝著更為便捷、快速的方向發(fā)展。2004年,Cooks等采取電噴霧解吸電離(DESI)技術(shù),無需樣品預(yù)處理,在常壓下即可對固體表面物質(zhì)直接離子化,成功地獲得待測物質(zhì)的質(zhì)譜信息,為實現(xiàn)無需樣品預(yù)處理的常壓快速質(zhì)譜分析開辟了新的道路,隨即引發(fā)了常壓離子化技術(shù)的快速質(zhì)譜分析研究趨勢。
微波等離子體炬(MPT)是1985年,金欽漢教授提出并研制的一種最初用作光譜分析的激發(fā)光源,隨后金教授和美國印第安納大學(xué)的G.M.Hieftje等共同對MPT進(jìn)行改進(jìn)。MPT能夠在很低的功率和載氣、維持氣流條件下產(chǎn)生穩(wěn)定的等離子體,這就很好地克服了ICP成本高等缺陷,成為大家倍受關(guān)注的激發(fā)光源,并已被廣泛用于包括環(huán)境、地質(zhì)、半導(dǎo)體、臨床等許多不同領(lǐng)域。霧化法為MPT分析溶液樣品的最常用的也是最方便的樣品引入方式,其中霧化法中的氣動霧化法制作及應(yīng)用技術(shù)相對成熟,因此常與去溶裝置聯(lián)用,從而實現(xiàn)MPT對溶液樣品的分析。去溶裝置包含加熱套、循環(huán)冷凝水、濃硫酸干燥池等復(fù)雜裝置,且現(xiàn)有的去溶裝置主要材質(zhì)為玻璃,在實驗過程中具有易碎、體積大不易攜帶,導(dǎo)致進(jìn)樣系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)復(fù)雜、樣 品通道較長、易耗損、分析速度慢等不足。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問題,本發(fā)明提供一種電離質(zhì)譜分析方法,利用了離子化效率高、分析速度快、成本低、裝配簡單的微波等離子體炬電離源。
本發(fā)明中采用的微波等離子體炬電離源,包括水平同軸放置的微波等離子體炬管和進(jìn)樣系統(tǒng),微波等離子體炬管的頭部設(shè)有開口端,所述開口端朝向質(zhì)譜掃描儀的離子傳輸管口,進(jìn)樣系統(tǒng)與微波等離子體炬管的尾部連接,所述進(jìn)樣系統(tǒng)為噴霧進(jìn)樣裝置,所述噴霧進(jìn)樣裝置包括進(jìn)樣器、載氣管和樣品噴管,載氣管同軸套裝于樣品噴管上,并與樣品噴管一同伸入微波等離子體炬管的尾部,與微波等離子體炬管耦合連接;進(jìn)樣器與樣品噴管相連。
在上述微波等離子體炬電離源中,括針筒狀的微量進(jìn)樣器和進(jìn)樣泵,微量進(jìn)樣器的頭部設(shè)有一針頭,其端口與樣品噴管相連,微量進(jìn)樣器的針筒內(nèi)裝有樣品,針筒尾部的推柄連接所述進(jìn)樣泵。
可選地,在上述微波等離子體炬電離源中,所述進(jìn)樣器包括載氣輸入管和錐形瓶,錐形瓶中充有樣品,樣品噴管與錐形瓶上部相連通,載氣輸入管伸入錐形瓶的樣品中,樣品由通入錐形瓶的載氣攜帶至樣品噴管。
在上述微波等離子體炬電離源中,所述載氣管包括載氣進(jìn)氣管、載氣管套管和載氣管本體,載氣管套管套裝于樣品噴管上,其下部設(shè)有開口,載氣進(jìn)氣管通過該開口插入載氣管套管內(nèi),載氣管套管靠近微波等離子體炬管的一端連接載氣管本體。
在上述微波等離子體炬電離源中,所述樣品噴管為石英毛細(xì)管,所述載氣管為PEEK管,樣品噴管管口伸出載氣管。
上述微波等離子體炬電離源還包括一Nafion干燥管,其同軸連接于所述進(jìn)樣系統(tǒng)和微波等離子體炬管之間,包括Nafion膜、套裝于Nafion膜管外的套管、吹掃氣進(jìn)氣口和吹掃氣出氣口,Nafion膜管的入口與載氣管的載氣管本體連接,Nafion膜管的出口與微波等離子體炬管的內(nèi)管連接,干燥的吹掃氣從吹掃氣進(jìn)氣口連續(xù)吹入,攜帶水份的反吹氣從吹掃氣出氣口吹出。
在上述微波等離子體炬電離源中,所述吹掃氣為氮氣或空氣。
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