[發明專利]測試模式設置電路和包括其的半導體器件

有效

• 申請號: 201610437200.2
• 申請日: 2016-06-17
• 公開（公告）號: CN106875976B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 李相昊;金京兌;樸宰范
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/14;G11C29/18
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 李少丹;許偉群

一種測試模式設置電路可以包括：第一測試模式信號發生單元，其通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，其通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及當第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。

相關申請的交叉引用

本申請要求2015年12月11日提交的申請號為10-2015-0176812的韓國專利申請的優先權，其全部內容通過引用合并于此。

技術領域

本發明的示例性實施例涉及測試模式設置電路和包括其的半導體器件。

背景技術

半導體器件可以包括測試模式設置電路，該測試模式設置電路用于設置測試模式，然后在多個測試操作之中選擇測試操作。此外，半導體器件可以包括與多個測試操作相對應的多個測試電路。當測試操作被選中時，半導體器件可以將對應的測試電路使能，以執行選中的測試操作。測試模式可以表示為半導體器件設置的用來執行測試操作的特定操作模式。

圖1為圖示測試模式設置電路100的框圖。圖2為用于圖示圖1的測試模式設置電路100的操作的波形圖。

參見圖1，測試模式設置電路100可以響應于測試碼TM_CODE來設置多個測試模式之中的與測試碼TM_CODE相對應的測試模式。每個測試模式可以與多個測試模式信號TM1至TMn之中的測試模式信號相對應。

參見圖2，測試模式設置電路100可以在模式設置完成(SET1)或者設置信號MRS_SET被激活時，設置多個測試模式之中的與測試碼TM_CODE相對應的測試模式。測試模式設置電路100可以將多個測試模式信號TM1至TMn之中的與設置的測試模式相對應的測試模式信號激活。即，測試模式信號TMx可以被激活，其中，x為具有以下關系的自然數：1≤x≤n。激活的測試模式信號TMx可以在電源電壓VDD被重置(VDD_RESET)時被去激活。

僅當模式設置完成時，測試模式設置電路100可以接著設置測試模式。因此，測試模式設置電路100在電源電壓VDD被重置(VDD_RESET)之后直到模式設置完成(SET2)為止的時段A期間不能設置測試模式。供作參考，重置操作可以包括在電源電壓被去激活之后重新激活電源電壓。

發明內容

各種實施例涉及一種測試模式設置電路和包括其的半導體器件，該測試模式設置電路能夠無論電源電壓的重置如何都保持激活的測試模式信號的狀態，以及設置測試模式以在電源電壓重置之后模式設置完成之前執行測試模式。

在一個實施例中，一種測試模式設置電路可以包括：第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。