[發明專利]測試模式設置電路和包括其的半導體器件

有效

• 申請號: 201610437200.2
• 申請日: 2016-06-17
• 公開（公告）號: CN106875976B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 李相昊;金京兌;樸宰范
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/14;G11C29/18
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 李少丹;許偉群

1.一種測試模式設置電路，包括：

第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及

第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。

2.根據權利要求1所述的測試模式設置電路，其中，第二測試模式信號發生單元包括：

多個電平移位器，所述多個電平移位器通過第二電源電壓來操作，每個電平移位器適用于在所述多個第一測試模式信號之中的對應的第一測試模式信號被激活時，通過將對應的第一測試模式信號的電平從第一電壓電平移位至第二電壓電平，來產生多個第二測試模式信號之中的對應的第二測試模式信號；以及

多個鎖存單元，所述多個鎖存單元通過第二電源電壓來操作，每個鎖存單元適用于鎖存所述多個第二測試模式信號之中的對應的第二測試模式信號。

3.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，第一電源電壓包括具有第一電壓電平的電源電壓，第二電源電壓包括具有第二電壓電平的電源電壓，并且第二電壓電平比第一電壓電平高。

4.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，模式設置包括模式寄存器組MRS設置。

5.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，即使當第一電源電壓被重置時，每個鎖存單元也保持對應的第二測試模式信號的狀態。

6.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，當第二電源電壓被去激活時，每個鎖存單元將對應的第二測試模式信號去激活。

7.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，當模式設置未完成時，第一測試模式信號發生單元將所有的第一測試模式信號保持在去激活狀態。

8.一種半導體器件，包括：

模式寄存器組電路，適用于響應于命令和地址來設置和儲存半導體器件的操作模式，以及在設置完成時將設置信號激活；

第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，并且適用于在設置信號被激活的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；

第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號；以及

內部電路，適用于在第二測試模式信號被激活時，執行與第二測試模式信號相對應的預定操作。

9.根據權利要求8所述的半導體器件，其中，第二測試模式信號發生單元包括：

多個電平移位器，所述多個電平移位器通過第二電源電壓來操作，每個電平移位器適用于在所述多個第一測試模式信號之中的對應的第一測試模式信號被激活時，通過將對應的第一測試模式信號的電平從第一電壓電平移位至第二電壓電平來產生第二測試模式信號；

多個鎖存單元，多個鎖存單元通過第二電源電壓來操作，每個鎖存單元適用于鎖存多個第二測試模式信號之中的對應的第二測試模式信號。

10.根據權利要求8所述的半導體器件，其中，第一電源電壓包括具有第一電壓電平的電源電壓，第二電源電壓包括具有第二電壓電平的電源電壓，并且第二電壓電平比第一電壓電平高。

11.根據權利要求8所述的半導體器件，其中，即使當第一電源電壓被重置時，每個鎖存單元也保持對應的第二測試模式信號的狀態。