[發明專利]層疊發熱體有效
| 申請號: | 201610404527.X | 申請日: | 2016-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN107481953B | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發明(設計)人: | 土佐晃文;乾靖彥;三輪要;篠崎洋輔 | 申請(專利權)人: | 日本特殊陶業株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 層疊 發熱 | ||
1.一種層疊發熱體,該層疊發熱體包括:陶瓷基板,其具有表面和背面,能夠在所述表面支承被處理物;電極,其設于所述陶瓷基板,用于吸附所述被處理物;加熱器,其設于所述陶瓷基板,用于加熱所述被處理物;端子,其安裝于所述陶瓷基板的所述背面側的一端;以及供電路徑,通過該供電路徑自所述端子向所述加熱器供電,該層疊發熱體的特征在于,
所述供電路徑是將設于所述陶瓷基板內的多個導電層和多個貫通路組合而成的,
所述多個貫通路包含以下定義的貫通路α、貫通路β、貫通路γ以及貫通路δ,
至少存在1個滿足以下條件(1)和條件(2)的、貫通路α、貫通路β、貫通路γ以及貫通路δ的組合,
貫通路α是將所述加熱器與所述多個導電層之一的導電層X連接起來的貫通路,
貫通路β和貫通路γ是將所述多個導電層之一的導電層Y與所述導電層X連接起來的貫通路,
貫通路δ是將所述多個導電層之一的導電層Z與所述導電層Y連接起來或將所述端子與所述導電層Y連接起來的貫通路,
條件(1):在自所述表面側朝向所述背面側觀察所述陶瓷基板時,所述貫通路δ位于與所述貫通路β重疊的位置或位于所述貫通路β的附近,
條件(2):在自所述表面側朝向所述背面側觀察所述陶瓷基板時,所述貫通路γ位于所述貫通路α與所述貫通路δ之間的位置、或位于與所述貫通路α重疊的位置、或者位于所述貫通路α的附近。
2.根據權利要求1所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述貫通路δ位于所述貫通路β的附近是指,自所述貫通路δ起到任意一個所述貫通路β為止的距離為所述貫通路δ的最大直徑的20倍以內的長度范圍。
3.根據權利要求1或2所述的層疊發熱體,其特征在于,
在將所述貫通路α、所述貫通路γ以及所述貫通路δ的位置投影到與自所述表面側朝向所述背面側去的方向正交的面上時,自所述貫通路α經由所述貫通路γ到達所述貫通路δ的路徑的長度L1為自所述貫通路α直接到達所述貫通路δ的路徑的長度L2的1.3倍以內。
4.根據權利要求1或2所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層X具有與所述貫通路β相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
5.根據權利要求3所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層X具有與所述貫通路β相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
6.根據權利要求1或2所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層Y具有與所述貫通路δ相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
7.根據權利要求3所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層Y具有與所述貫通路δ相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
8.根據權利要求4所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層Y具有與所述貫通路δ相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
9.根據權利要求5所述的層疊發熱體,其特征在于,
所述導電層Y具有與所述貫通路δ相連接且膜厚比周圍部分的膜厚大的區域。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日本特殊陶業株式會社,未經日本特殊陶業株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610404527.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





