[發明專利]電子閱卷方法及裝置在審
| 申請號: | 201610395196.8 | 申請日: | 2016-06-06 |
| 公開(公告)號: | CN107463869A | 公開(公告)日: | 2017-12-12 |
| 發明(設計)人: | 余輝 | 申請(專利權)人: | 成都理想境界科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610041 四川省成都市高新*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 閱卷 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及圖像識別與模式識別技術領域,尤其涉及一種電子閱卷方法及裝置。
背景技術
隨著信息時代的到來,電子信息技術不斷發展并日益深入到不同的行業領域,逐步取代繁復的人工操作,極大地提高了事務的處理效率。目前,利用圖像掃描技術實現電子閱卷已經成為大型考試中協助教師提高閱卷效率、減輕教師閱卷負擔的常見方式。通過將待評閱試卷掃描入系統,系統將試卷圖像劃分為若干圖像區域分發給不同的閱卷教師,由閱卷教師通過各自終端進行評閱。相比于傳統的人工閱卷方式,電子閱卷在大幅提高閱卷速度的同時,能夠有效地避免人為失誤導致的閱卷錯誤,提高試卷評判的準確度與公平性。
現階段,我國的教育體系仍主要將采用紙質試卷對考生知識的掌握程度進行檢驗作為教學評估的重要方式,一方面由于紙質試卷的使用成本較為低廉,另一方面教師評閱后的紙質試卷重新發還給考生后,教師在紙質試卷上的評閱痕跡能夠加深考生對于相應知識點的理解與記憶?;诖?,通過現有的圖像掃描系統進行試卷評閱,紙質試卷上沒有教師的評閱痕跡,不利于考生對考試題目的再學習;同時,采用常規的試卷評閱方式,教師在對考生的答題逐一進行評閱評分后,還需要花費大量的時間對整張試卷的得分進行統計,極大地增加了教師在評閱試卷過程中的工作負擔。因此如何實現快速、準確地對已評閱的紙質試卷中教師的評閱評分進行自動識別和統計,成為目前亟待解決的技術問題之一。
發明內容
本發明的目的是提供一種電子閱卷方法,通過拍照或掃描獲取已評閱的紙質試卷的圖像,提取所述已評閱試卷圖像中的試卷評閱區域的圖像,識別試卷評閱區域內的教師評閱標記,根據評閱標記確定試卷評閱內容,統計后得到試卷的評閱結果。
有鑒于此,本發明一方面提供一種電子閱卷方法,包括:獲取已評閱試卷 中試卷評閱區域的圖像;根據預設的顏色空間模型,選取預設顏色通道對所述試卷評閱區域圖像進行二值化處理,得到所述試卷評閱區域圖像對應的二值圖像;提取所述二值圖像中的形狀,得到所述形狀的集合;通過形狀匹配,確定所述形狀集合中與教師評閱標記對應的形狀;根據所述與教師評閱標記對應的形狀,確定所述形狀對應的評閱內容,統計得到試卷評閱結果。
優選地,所述根據預設的顏色空間模型,選取預設顏色通道對所述試卷評閱區域圖像進行二值化處理,得到所述試卷評閱區域圖像對應的二值圖像的步驟,具體為:將所述試卷評閱區域圖像轉換到LAB顏色空間,提取所述試卷評閱區域圖像在A通道對應的圖像IA;對所述試卷評閱區域圖像在A通道對應的圖像IA進行二值化處理,得到所述圖像IA對應的二值圖像IR。
優選地,所述提取所述二值圖像中的形狀,得到所述形狀的集合的步驟,具體為:對所述二值圖像IR進行邊緣檢測,以單像素形式表示所述二值圖像IR中的形狀;提取所述二值圖像IR中的形狀,得到所述形狀的集合。
優選地,所述通過形狀匹配,確定所述形狀集合中與試卷評閱標記對應的形狀的步驟之前,還包括:獲取試卷評閱標記對應的形狀模板。
優選地,所述通過形狀匹配,確定所述形狀集合中與試卷評閱標記對應的形狀的步驟,具體為:將所述形狀集合中的形狀與所述形狀模板進行形狀上下文匹配,確定所述形狀集合中與試卷評閱標記對應的形狀。
本發明另一方面提供一種電子閱卷裝置,包括:圖像獲取模塊:用于獲取已評閱試卷中試卷評閱區域的圖像;圖像處理模塊:用于根據預設的顏色空間模型,選取預設顏色通道對所述試卷評閱區域圖像進行二值化處理,得到所述試卷評閱區域圖像對應的二值圖像;形狀提取模塊:用于提取所述二值圖像中的形狀,得到所述形狀的集合;形狀匹配模塊:用于通過形狀匹配,確定所述形狀集合中與試卷評閱標記對應的形狀;結果統計模塊:用于根據所述與試卷評閱標記對應的形狀,確定所述形狀對應的評閱內容,統計得到試卷評閱結果。
優選地,所述圖像處理模塊,包括:顏色分解單元:用于將所述試卷評閱區域圖像轉換到LAB顏色空間,提取所述試卷評閱區域圖像在A通道對應的圖像IA;二值處理單元:對所述試卷評閱區域圖像在A通道對應的圖像IA進行二值化處理,得到所述圖像IA對應的二值圖像IR。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成都理想境界科技有限公司,未經成都理想境界科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610395196.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





