[發(fā)明專利]從晶片揭除粘膜的方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610370074.3 | 申請日: | 2016-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN107452664B | 公開(公告)日: | 2019-06-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 賀友華;馮奎;張有沐;王元立;朱頌義 | 申請(專利權(quán))人: | 北京通美晶體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京北翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11285 | 代理人: | 鐘守期;鄭建暉 |
| 地址: | 101113 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶片 粘膜 方法 裝置 | ||
本發(fā)明涉及一種從晶片揭除粘膜的方法,包括下列步驟:將其上帶有粘膜的晶片以傾斜狀態(tài)置于一個晶片支撐臺,所述晶片支撐臺包括一個底座和一個容納晶片的傾斜支撐面;使用刀片將晶片上的粘膜從晶片邊緣揭起;用一個壓片手柄將晶片按壓在晶片支撐臺上,同時,用鑷子將所述粘膜從所述晶片揭除;任選地,在“將其上帶有粘膜的晶片以傾斜狀態(tài)置于一個晶片的支撐臺”之后,“使用刀片將晶片上的粘膜從晶片邊緣揭起”之前,對置于晶片的支撐臺的帶有粘膜的晶片作失粘處理。還涉及用于從晶片揭除粘膜的裝置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶片領(lǐng)域,更具體而言,涉及從半導(dǎo)體晶片揭除粘膜的方法及裝置。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體領(lǐng)域,在襯底晶片制造(例如從生產(chǎn)的晶棒切出毛晶片后,需要對毛晶片實施磨邊、研磨和拋光等步驟)以及隨后的外延生長減薄加工及保存、運輸過程中,都有可能在晶片的一面或兩面貼上粘膜(即在塑料基膜上涂有膠粘劑而形成的粘膜,該粘膜照射光線后,膠粘劑失去粘性;常用的粘膜為紫外(UV)膜,該膜上施加的紫外膠經(jīng)照射紫外線后失去粘性。照射光線使膠粘劑失去粘性的過程稱為解膠或失粘過程),但是這樣的膜最終需要從晶片揭除?,F(xiàn)有技術(shù)中,對帶膜晶片進行揭膜主要采用兩種方法:采用自動揭膜機揭膜和手工揭膜。采用自動揭膜機揭膜時,晶片表面與機械手接觸容易被污染,而且自動揭膜設(shè)備昂貴、效率較低且適用范圍窄,目前只適用于直徑在150mm以上、厚度在400μm以上的晶片。手工揭膜時,操作人員戴手套用手指橫跨晶片表面夾持晶片邊緣,容易殘留手套印,導(dǎo)致晶片出現(xiàn)邊緣污染,同時容易產(chǎn)生變形,影響晶片質(zhì)量,并且不適用于直徑較大的晶片。
因此,希望有更為簡單適用的從晶片揭除粘膜的方法及裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在克服現(xiàn)有技術(shù)的以上缺點,提供一種揭膜技術(shù),具體地,提供一種從晶片揭除粘膜的方法及裝置,包括但不限于半導(dǎo)體帶膜拋光后的揭膜和外延減薄處理后的晶片揭膜。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種從晶片揭除粘膜的方法,包括下列步驟:
將其上帶有粘膜的晶片以傾斜狀態(tài)置于一個晶片支撐臺,所述晶片支撐臺包括一個底座和一個容納晶片的傾斜支撐面;
使用刀片將晶片上的粘膜從晶片邊緣揭起;和
用一個壓片手柄將晶片按壓在晶片支撐臺上,同時,用鑷子將所述粘膜從所述晶片揭除;
任選地,在“將其上帶有粘膜的晶片以傾斜狀態(tài)置于一個晶片支撐臺”之后,“使用刀片將晶片上的粘膜從晶片邊緣揭起”之前,對置于晶片支撐臺的帶有粘膜的晶片作失粘處理。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,還提供一種從晶片揭除粘膜的裝置,包括:
一個晶片支撐臺,用于支撐其上有粘膜的晶片,包括一個底座和一個容納晶片的傾斜支撐面;
一個刀片,用于將晶片上的粘膜從晶片邊緣揭起;
一個壓片手柄,用于將晶片按壓在晶片支撐臺上;以及
一個鑷子,用于將粘膜從晶片揭除;
任選地,一個處理設(shè)備,用于對置于晶片支撐臺的帶有粘膜的晶片作失粘處理。
本發(fā)明的從晶片揭除粘膜的方法及裝置可以保證在揭膜過程中,操作者的手不直接接觸晶片,防止晶片出現(xiàn)邊緣污染;且適用范圍廣,可以對任何尺寸和任何厚度的晶片進行無接觸式人工揭膜;方法簡單、操作方便,實現(xiàn)以低揭膜成本改善揭膜晶片的表面質(zhì)量。
附圖說明
圖1示出本發(fā)明的用于從晶片揭除粘膜的裝置的一個實施方案的立體圖。
具體實施方式
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





