[發(fā)明專利]檢測設(shè)備的補償方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610369835.3 | 申請日: | 2016-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN105928946B | 公開(公告)日: | 2017-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張昕陽;丁曉華;周翔 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市鷹眼在線電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所44287 | 代理人: | 胡海國 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 設(shè)備 補償 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及檢測方法技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測設(shè)備的補償方法。
背景技術(shù)
目前,便攜式電子產(chǎn)品已經(jīng)越來越普遍地應(yīng)用在人們的日常生活中,為了滿足人們對電子產(chǎn)品方便攜帶的要求,需要制作體積小、重量輕的先進電子產(chǎn)品,為此需要縮小電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)尺寸,使其結(jié)構(gòu)緊湊。而硬性或柔性電路板作為電子產(chǎn)品當(dāng)中必不可少的部分,其尺寸也越來越小,電路越來越復(fù)雜,精準(zhǔn)度也越來越高。用于其檢測的檢測設(shè)備,檢測精度和速度的相應(yīng)提升對行業(yè)生產(chǎn)也起到重要作用。
現(xiàn)有的硬性或柔性電路板檢測設(shè)備,被檢測對象被放置在工作臺上面,由工作臺做直線運動,或者由光學(xué)系統(tǒng)做直線運動對被檢測對象進行掃描,檢查缺陷。但是由于直線運動存在X、Y、Z三個方向,而且3個軸轉(zhuǎn)向方面也會出現(xiàn)運動偏差,尤其是整套系統(tǒng)對直線傳動部分的誤差放大,會導(dǎo)致線掃描出來的圖像合成之后帶有誤差。
目前的做法都是在相機上做一個隨動標(biāo)定塊,然后由相機走不同位置來標(biāo)定整個范圍的誤差。但是,這種做法未能將平臺以及光學(xué)系統(tǒng)的運動姿態(tài)誤差考慮在標(biāo)定內(nèi)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種檢測設(shè)備的補償方法,旨在解決現(xiàn)有做法未能將平臺以及光學(xué)系統(tǒng)的運動姿態(tài)誤差考慮在標(biāo)定內(nèi)的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出一種檢測設(shè)備的補償方法,包括以下步驟:
在檢測設(shè)備的工作臺上固定一光學(xué)標(biāo)定板,該光學(xué)標(biāo)定板具有XY方向十字交叉的標(biāo)定標(biāo)識中心;
將所述工作臺的運動方向和光學(xué)系統(tǒng)的運動方向在XY方向進行重合比對;
將所述光學(xué)系統(tǒng)移動至所述光學(xué)標(biāo)定板的一個標(biāo)定標(biāo)識中心位置點,將光學(xué)中心對準(zhǔn)標(biāo)定標(biāo)識中心,設(shè)定該標(biāo)定標(biāo)識中心位置點為原點;
識別標(biāo)定標(biāo)識中心到所述光學(xué)中心的偏差;
針對所述偏差進行評估,補償和點位較準(zhǔn)。
進一步地,所述將所述工作臺的運動方向和光學(xué)系統(tǒng)的運動方向在XY方向進行重合比對的步驟,包括以下子步驟:
將線掃描相機和光學(xué)標(biāo)定板對位;
在所述工作臺上安裝一個角度調(diào)整機構(gòu),并用所述角度調(diào)整機構(gòu)調(diào)整所述光學(xué)標(biāo)定板的角度;
將線掃描相機更換為面陣相機;
將所述工作臺和所述光學(xué)系統(tǒng)在XY方向進行平移,匹配對應(yīng)的X軸、Y軸。
進一步地,所述識別標(biāo)定標(biāo)識中心到所述光學(xué)中心的偏差的步驟,包括以下子步驟:
在光學(xué)標(biāo)定板上標(biāo)定一個以標(biāo)定標(biāo)識的間距的整數(shù)倍為標(biāo)定距離的區(qū)域;
帶動面陣相機移動到固定距離的各個位置點;
通過所述面陣相機拍照,識別標(biāo)定標(biāo)識中心到光學(xué)中心的偏差。
進一步地,所述識別標(biāo)定標(biāo)識中心到所述光學(xué)中心的偏差的步驟之后,還包括以下步驟:
建立基于XY平面坐標(biāo)和各自軸偏差的三維地形分布圖;
利用附近檢測點的偏差,計算任一中間點的偏差。
進一步地,所述檢測設(shè)備包括:控制驅(qū)動系統(tǒng),連接控制驅(qū)動系統(tǒng)的XY平臺,及反饋位置信號給控制驅(qū)動系統(tǒng)的機械位置反饋編碼器。
進一步地,所述檢測設(shè)備還包括:安裝于所述XY平臺的光學(xué)系統(tǒng),及對所述光學(xué)系統(tǒng)進行圖像識別和位置定位的圖像處理系統(tǒng)。
進一步地,所述光學(xué)系統(tǒng)為線性掃描相機光學(xué)系統(tǒng)或面陣相機光學(xué)系統(tǒng)。
進一步地,所述光學(xué)標(biāo)定板設(shè)有X方向和Y方向的標(biāo)定刻度。
本發(fā)明的檢測設(shè)備的補償方法,通過在檢測設(shè)備的工作臺上固定一光學(xué)標(biāo)定板,然后將工作臺的運動方向和光學(xué)系統(tǒng)的運動方向在XY方向進行重合比對,將光學(xué)系統(tǒng)移動至光學(xué)標(biāo)定板的一個標(biāo)定標(biāo)識中心位置點,將光學(xué)中心對準(zhǔn)標(biāo)定標(biāo)識中心,設(shè)定該標(biāo)定標(biāo)識中心位置點為原點;,再識別標(biāo)定標(biāo)識中心到光學(xué)中心的偏差,最后針對所述偏差進行評估,補償和點位較準(zhǔn),來減少或消除直線運動帶來的檢測誤差,提高了檢測精度,解決了現(xiàn)有做法未能將平臺以及光學(xué)系統(tǒng)的運動姿態(tài)誤差考慮在標(biāo)定內(nèi)的問題。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖示出的結(jié)構(gòu)獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明檢測設(shè)備的補償方法一實施例的流程圖;
圖2為圖1中步驟S2的流程圖;
圖3為圖1中步驟S3的流程圖。
本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例,參照附圖做進一步說明。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





