[發明專利]低反射金屬結構、顯示面板及其制作方法在審
| 申請號: | 201610331716.9 | 申請日: | 2016-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN105785639A | 公開(公告)日: | 2016-07-20 |
| 發明(設計)人: | 王碩宏;林巧雯;張家銘;林俊男 | 申請(專利權)人: | 友達光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1335 | 分類號: | G02F1/1335;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁揮;鮑俊萍 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反射 金屬結構 顯示 面板 及其 制作方法 | ||
技術領域
本發明關于一種低反射金屬結構及其制作方法,尤指一種具有低反射金屬結構的 顯示面板及其制作方法。
背景技術
液晶顯示面板由于具有外型輕薄、耗電量少以及應用范圍廣等特性,故已成為目 前顯示器的主流商品。由于液晶顯示面板內的金屬結構例如導線會反射外界的光線,造成 用戶在使用液晶顯示面板時會看到液晶顯示面板的內部導線,因此目前常見的作法是在液 晶顯示面板內設置黑色矩陣層,以防止導線反射外界光線的情形發生。然而,黑色矩陣層的 設置會造成液晶顯示面板的開口率下降,使得顯示亮度降低。
發明內容
本發明的目的之一在于提供一種低反射金屬結構、顯示面板及其制作方法,以減 少金屬結構的可視性并提升顯示面板的開口率。
為達上述的目的,本發明提供一種制作低反射金屬結構的方法。首先,提供第一基 板。然后,于第一基板上形成金屬層。接著,于金屬層上及/或下形成低反射層,其中低反射 層包括金屬氧化物層或金屬氮氧化物層。隨后,對低反射層與金屬層進行圖案化工藝,以形 成圖案化低反射層以及圖案化金屬層。
其中,于該金屬層上及/或下形成該低反射層的步驟包括進行一反應性濺鍍工藝 步驟。
其中,該制作低反射金屬結構的方法,另包括:
于該金屬層上及/或下形成該低反射層時,同時于該第一基板與該圖案化低反射 層之間,或該金屬層與該低反射層之間形成一接口層;以及
利用該圖案化工藝一并對該接口層進行圖案化。
其中,該接口層的材料包括金屬氧化物或金屬氮氧化物。
其中,于該金屬層上形成該低反射層時,該圖案化低反射層僅覆蓋該圖案化金屬 層的頂表面而未覆蓋該圖案化金屬層的側表面。
其中,該圖案化低反射層的厚度介于之間。
其中,該圖案化金屬層具有一迭合結構,包括一底金屬層以及一頂金屬層位于該 底金屬層上。
其中,該底金屬層的厚度介于之間,且該頂金屬層的厚度介于之間。
其中,該圖案化低反射層的反射率介于2%至20%之間。
其中,該金屬氧化物層中氧的含量原子百分比介于5%至50%之間。
其中,該金屬氧化物層包括一鉬氧化物層或一鉬鉭氧化物層。
其中,該金屬氮氧化物層中氧的含量原子百分比介于5%至50%之間,且該金屬氮 氧化物層中氮的含量介于1%至10%之間。
其中,該金屬氮氧化物層包括一鉬氮氧化物層或一鉬鉭氮氧化物層。
其中,該圖案化金屬層的側表面與底表面之間具有一夾角,且該夾角介于10度至 80度之間。
其中,該低反射層為非晶相。
其中,另包括在形成該金屬層與該低反射層之前,先于該第一基板上形成一薄膜 層,且該薄膜層為硅薄膜、硅氧化合物薄膜或硅氮化合物薄膜的單層或多層結構。
為達上述的目的,本發明又提供一種制作顯示面板的方法。首先,進行上述的制作 低反射金屬結構的方法。然后,于第一基板上形成多個像素結構。接著,于第一基板上形成 第二基板。隨后,于第一基板與第二基板之間形成顯示介質層。
為達上述的目的,本發明另提供一種低反射金屬結構,包括第一基板、圖案化金屬 層以及圖案化低反射層。圖案化金屬層設置于第一基板上。圖案化低反射層設置于圖案化 金屬層上及/或下。
其中,該圖案化低反射層設置于該圖案化金屬層上時,該圖案化低反射層僅覆蓋 該圖案化金屬層的頂表面而未覆蓋該圖案化金屬層的側表面。
其中,該圖案化低反射層的厚度介于之間。
其中,該圖案化金屬層具有一迭合結構,其包括一底金屬層以及一頂金屬層位于 該底金屬層上。
其中,該底金屬層的厚度介于之間,且該頂金屬層的厚度介于之間。
其中,該圖案化低反射層的反射率介于2%至20%之間。
其中,該圖案化低反射層包括一金屬氧化物層或一金屬氮氧化物層。
其中,該金屬氧化物層中氧的含量原子百分比介于5%至50%之間。
其中,該金屬氧化物層包括一鉬氧化物層或一鉬鉭氧化物層。
其中,該金屬氮氧化物層中氧的含量原子百分比介于5%至50%之間,且該金屬氮 氧化物層中氮的含量介于1%至10%之間。
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