[發明專利]精密校平系統

在審

• 申請號: 201610304959.3
• 申請日: 2016-05-10
• 公開（公告）號: CN105772537A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 薛東華
• 申請（專利權）人: 常州市雪龍機械制造有限公司
• 主分類號: B21D1/02
• 分類號: B21D1/02;B21C51/00
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11266
• 代理人: 張榮

1.一種精密校平系統，包括上機架和位于所述上機架下方的下機架，其中所述上機架上設有上校平輥組，所述下機架設有下校平輥組，其特征在于：所述系統還包括用于檢測所述上機架與所述下機架相對位置的位置傳感器，所述位置傳感器通過控制器與液壓驅動機構相連，所述液壓驅動機構用于驅動所述上機架或者所述下機架運動。

2.根據權利要求1所述的精密校平系統，其特征在于：所述液壓驅動機構包括油箱、換向閥、電液伺服閥以及油缸，其中所述油箱與所述換向閥相連，所述換向閥通過所述電液伺服閥與所述油缸相連，所述油缸用于驅動所述上機架或者所述下機架運動。

3.根據權利要求2所述的精密校平系統，其特征在于：所述油缸與所述上機架相連，所述下機架上安裝有導柱，所述油缸設置在所述導柱上且可沿所述導柱的軸向運動。

4.根據權利要求2所述的精密校平系統，其特征在于：所述油箱通過油泵與所述換向閥相連，且所述油泵由電機驅動。

5.根據權利要求1所述的精密校平系統，其特征在于：所述位置傳感器是光柵尺,其中所述光柵尺的讀數頭設于所述上機架上或者下機架上，所述光柵尺的主尺對應設于所述下機架或者上機架上，且所述光柵尺的讀數頭隨所述上機架或者下機架的運動沿所述光柵尺的主尺滑動。

6.根據權利要求1所述的精密校平系統，其特征在于：所述上校平輥組的上方設有上托輥組，其中所述上校平輥組包括多個并排設置的上校平輥，所述上托輥組包括多個并排設置的上托輥，且所述上校平輥設置在相鄰兩個上托輥中間位置下方。

7.根據權利要求6所述的精密校平系統，其特征在于：所述上托輥組位于上托輥架上，所述上托輥架與所述上機架固定連接。

8.根據權利要求1所述的精密校平系統，其特征在于：所述下校平輥組的下方設有下托輥組，其中所述下校平輥組包括多個并排設置的下校平輥，所述下托輥組包括多個并排設置的下托輥，且所述下校平輥設置在相鄰兩個下托輥中間位置上方。

9.根據權利要求8所述的精密校平系統，其特征在于：所述下托輥組位于下托輥架上，所述下托輥架固定連接在所述下機架上。

10.根據權利要求1所述的精密校平系統，其特征在于：所述上機架與上齒輪箱相連，所述下機架與下齒輪箱相連，所述上齒輪箱與第一減速機相連，所述下齒輪箱與第二減速機相連。