[發明專利]一種精確減薄并獲得高質量少層或單層石墨烯的方法在審
| 申請號: | 201610271903.2 | 申請日: | 2016-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN105776198A | 公開(公告)日: | 2016-07-20 |
| 發明(設計)人: | 肖少慶;沈鋼;顧曉峰;戴曉峰 | 申請(專利權)人: | 江南大學 |
| 主分類號: | C01B31/04 | 分類號: | C01B31/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214122 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 精確 獲得 質量 單層 石墨 方法 | ||
1.一種精確刻蝕并獲得高質量少層或單層石墨烯的方法,其特征在于:利用速率 可控的等離子刻蝕技術以物理方法去除不需要的外面若干層石墨烯,然后高溫 退火修復刻蝕過程中產生的石墨烯碳原子晶格缺陷,能夠讓多層石墨烯或厚層 石墨片的厚度按照預期減少,達到精確刻蝕多層石墨烯或厚層石墨片的目的, 具體是首先利用低壓低密度氬氣等離子體對石墨烯刻蝕,使得層狀石墨烯被精 確、均勻、有效地刻蝕掉,最終達到少層或單層,然后在管式爐中對其進行退 火,修補其在刻蝕過程中產生的晶格缺陷,得到高品質少層或單層石墨烯。
2.按權利要求1所述的低壓低密度等離子體可以是電容耦合等離子體(PECVD) 也可以是電感耦合等離子體(ICPCVD),其等離子體密度宜控制在~109cm-3左 右,工作氣體為氬氣,工作氣壓為2-4.5Pa(低壓),可根據需求調節射頻電源 功率(刻蝕速率)和處理時間,從而將多層石墨烯或厚層石墨片減薄到預期的 少層或單層石墨烯。
3.按照權利要求1所述的高溫退火是指將刻蝕減薄后的少層或單層石墨烯樣品放 入加熱的管式爐,管式爐在高純氮氣(300ml/min)的保護下,升溫到 800-1000℃,退火時間一般為10-15分鐘,然后樣品隨爐冷卻到室溫。高純氮 氣的質量百分含量為99.99%。
4.按照權利要求1所述的精確刻蝕技術,是指刻蝕前石墨烯層數為a,刻蝕后石墨 烯的層數可以為a-b,其中,b為自然數,并且符合1≤b≤a。通過控制刻 蝕速率以及處理時間,可以使得a-b為預期的設定值,達到精確刻蝕的目標。
5.按照權利要求1所述的等離子體刻蝕是基于物理上的離子轟擊效應,在減薄過 程中沒有引入任何雜質,因此在減薄過程中最大限度保持了石墨烯的純凈性。
6.按照權利要求1所述的等離子處理后的高溫退火,可以修復由離子轟擊產生的 石墨烯受損晶格,從而獲得高質量的少層或單層石墨烯。
7.根據權利要求1所述的多層石墨烯或厚層石墨片,是指利用機械剝離制備的多 層石墨烯或厚層石墨片,或CVD方法在不同基底上制備的石墨烯,或CVD方 法制備后轉移到其他基底上的石墨烯,或SiC熱解制備的石墨烯,以及其他兩 層及兩層以上厚度的石墨烯。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江南大學,未經江南大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610271903.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





