[發(fā)明專利]發(fā)光均勻度校正設(shè)備及其校正方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610268793.4 | 申請日: | 2016-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN107315319A | 公開(公告)日: | 2017-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張鴻明 | 申請(專利權(quán))人: | 川寶科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京市浩天知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11276 | 代理人: | 劉云貴,王東 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光 均勻 校正 設(shè)備 及其 方法 | ||
1.一種發(fā)光均勻度校正設(shè)備,適用于對曝光機(jī)的一發(fā)光模塊進(jìn)行發(fā)光均勻度校正,且該發(fā)光模塊具有多個(gè)發(fā)光單元以產(chǎn)生一面光源,其特征在于,該發(fā)光均勻度校正設(shè)備包含:
一感測模塊,與該發(fā)光模塊的發(fā)光面相對設(shè)置,并于對應(yīng)該發(fā)光面的多個(gè)取樣位置上對該發(fā)光面進(jìn)行光強(qiáng)度感測,且根據(jù)于各該取樣位置所感測的光線的強(qiáng)度而分別產(chǎn)生對應(yīng)的一光強(qiáng)度訊號;
一移動模塊,根據(jù)一取樣位置信息訊號,使該感測模塊與該發(fā)光模塊的間產(chǎn)生相對位移以于各該取樣位置間進(jìn)行移動;
一處理模塊,與該感測模塊及該移動模塊相耦接,并輸出該取樣位置信息訊號且接收該感測模塊于各該取樣位置所產(chǎn)生的光強(qiáng)度訊號,并于該發(fā)光面的發(fā)光均勻度不符合一均勻度標(biāo)準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生對應(yīng)的一校正訊號;及
一調(diào)整模塊,與該處理模塊及該發(fā)光模塊相耦接,根據(jù)該校正訊號對應(yīng)地調(diào)整這些發(fā)光單元中的至少一者的發(fā)光強(qiáng)度。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備,其中該調(diào)整模塊系根據(jù)該校正訊號分別調(diào)整對這些發(fā)光單元中的至少一者的供電量,以分別改變被調(diào)整的各該發(fā)光單元的發(fā)光強(qiáng)度。
3.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備,其特征在于,該處理模塊取得該面光源上具有異常光強(qiáng)度的區(qū)塊的一異常坐標(biāo)位置信息及一異常光強(qiáng)度信息,并將該異常坐標(biāo)位置信息及該異常光強(qiáng)度信息搭載于該校正訊號來輸出。
4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備,其特征在于,該調(diào)整模塊根據(jù)該異常坐標(biāo)位置信息來定位出發(fā)光異常的發(fā)光單元,并根據(jù)該異常光強(qiáng)度信息來調(diào)整被定位的發(fā)光單元的發(fā)光強(qiáng)度。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備,其特征在于,該感測模塊為光電轉(zhuǎn)換器。
6.如權(quán)利要求5所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備,其特征在于,該光電轉(zhuǎn)換器具有光電二極管。
7.一種發(fā)光均勻度校正方法,使用如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的發(fā)光均勻度校正設(shè)備來對曝光機(jī)的發(fā)光模塊進(jìn)行發(fā)光均勻度校正,其特征在于,該發(fā)光均勻度校正方法包含:
S10:分辨率設(shè)定步驟,設(shè)定該曝光機(jī)的發(fā)光模塊的多個(gè)取樣位置的數(shù)量及坐標(biāo);
S12:光強(qiáng)度感測步驟,分別于這些取樣位置上對該曝光機(jī)的發(fā)光模塊的發(fā)光面進(jìn)行光強(qiáng)度感測;
S14:均勻度分析步驟,根據(jù)各該取樣位置的光強(qiáng)度進(jìn)行分析并判斷各該取樣位置的光強(qiáng)度是否符合該均勻度標(biāo)準(zhǔn),若不符合進(jìn)入步驟S16,若符合則結(jié)束該校正方法;及
S16:均勻度校正步驟,根據(jù)光強(qiáng)度異常的取樣位置取得對應(yīng)該取樣位置的發(fā)光單元,并對該發(fā)光單元的發(fā)光強(qiáng)度進(jìn)行調(diào)整。
8.如權(quán)利要求7中所述的發(fā)光均勻度校正方法,其特征在于,步驟S16后還包含:
S18:均勻度確保步驟,再次分別于這些取樣位置上對該發(fā)光面進(jìn)行光強(qiáng)度感測,并判斷各該取樣位置的光強(qiáng)度是否符合該均勻度標(biāo)準(zhǔn),若不符合進(jìn)入步驟S16,若符合則結(jié)束該校正方法。
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