[發明專利]一種雙靶直流共濺射制備銅銦鎵硒吸收層的方法有效
| 申請號: | 201610266729.2 | 申請日: | 2016-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN105870254B | 公開(公告)日: | 2017-08-25 |
| 發明(設計)人: | 杜祖亮;程軻;薛明 | 申請(專利權)人: | 河南大學 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 鄭州聯科專利事務所(普通合伙)41104 | 代理人: | 時立新,周闖 |
| 地址: | 475001*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 直流 濺射 制備 銅銦鎵硒 吸收 方法 | ||
1.一種雙靶直流共濺射制備銅銦鎵硒吸收層的方法,其特征在于,包括以下步驟:①提供基底,共濺射CuGa合金靶和In靶,所述CuGa合金靶的原子數比為Cu:Ga=4:1,制備銅銦鎵預制層,共濺射的工藝條件為:本底真空為4~5×10-4Pa,工作壓強0 .5~0 .6 Pa,In靶的濺射功率為80 W,CuGa合金靶的濺射功率為25 W,濺射時間35~40 min;②將銅銦鎵預制層放入快速退火爐中,20~25s內升溫至545~550℃,545~550℃下硒化30~35 min,自然冷卻至室溫,即可得到銅銦鎵硒吸收層。
2.如權利要求1所述雙靶直流共濺射制備銅銦鎵硒吸收層的方法,其特征在于:步驟①中所用的基底為鍍鉬的鈉鈣玻璃基底。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





