[發明專利]一種擴散氫的分析裝置及分析方法

在審

• 申請號: 201610266015.1
• 申請日: 2016-04-25
• 公開（公告）號: CN105675612A
• 公開（公告）日: 2016-06-15
• 發明（設計）人: 鄭子行;崔偉;梁麗;田海義;段旭川;陳峰
• 申請（專利權）人: 天津大橋焊材集團有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84
• 代理公司: 天津市鼎和專利商標代理有限公司 12101
• 代理人: 馮舜英

1.一種擴散氫的分析裝置，其特征在于，包括：擴散氫釋放爐(1)；擴 散氫吸附管(2)和顯微鏡；在擴散氫釋放爐(1)上設置有載氣入口管(4) 和載氣出口管(5)，載氣出口管(5)與擴散氫吸附管(2)連接；在擴散氫吸 附管(2)外設置有加熱爐(6)，待分析試樣(a)和吸氫金屬(b)分別放在 擴散氫釋放爐(1)和擴散氫吸附管(2)內。

2.根據權利要求1所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述載氣入 口管(4)和載氣出口管(5)設置在擴散氫釋放爐(1)沿長度方向相對的兩 側。

3.根據權利要求1所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述吸氫金 屬(b)是儲氫金屬或合金。

4.根據權利要求3所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述儲氫金 屬或合金為鈦、鈦合金或組成為AB₅、AB₂、A₂B的非鈦儲氫合金絲。

5.根據權利要求3所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述吸氫金 屬是鈦絲。

6.根據權利要求1所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述載氣為 為惰性氣體或凈化后不含干擾組分的空氣。

7.根據權利要求1所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述擴散氫 吸附管(2)內徑在0.5-10毫米。

8.根據權利要求7所述的擴散氫的分析裝置，其特征在于，所述擴散氫 吸附管(2)內徑在1.0-3毫米。

9.采用如權利要求書1-8任一項所述擴散氫的分析裝置的分析方法，其 特征在于，包括以下步驟：

(1)加熱含有擴散氫的金屬試樣的擴散氫釋放爐，使擴散氫被釋放；

(2)釋放出的擴散氫被載氣載入擴散氫吸附管，擴散氫吸附管內插吸氫 金屬，使擴散氫在150—550℃與吸氫金屬反應被固定；

(3)將反應后的吸氫金屬在顯微鏡下觀察金屬表面的變化程度進而來分 析擴散氫的含量。

10.根據權利要求9所述的擴散氫的的分析方法，其特征在于，所述擴散 氫釋放爐的加熱溫度為400℃，吸氫金屬為吸氫鈦絲，擴散氫吸附管溫度為340 —360℃。