[發明專利]一種光纖器件的透射和反射性能測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201610265283.1
• 申請日: 2016-04-26
• 公開（公告）號: CN105784336B
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 楊軍;梁帥;李創;苑勇貴;彭峰;吳冰;喻張俊;苑立波
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供的是一種光纖器件的透射和反射性能同時測試的裝置及方法。向待測器件中注入寬譜光，產生能反映其透射和反射性能的兩路光信號，并將光信號注入到光學相干域偏振測量技術透射性能測試結構和光學低相干反射技術的反射性能測試結構中，使用共用延遲部件進行掃描，對兩路光信號進行測量，同時得到待測光纖器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延遲部件的情況下，光纖器件的透射和反射性能測試裝置可精確測量待測器件的偏振性能、色散特性、損耗特性、相干光譜特性等特征參數。本發明具有集成程度高、測試參數全、抗電磁干擾、器件組成簡單等優點，可廣泛用于保偏光纖、集成波導調制器等光學器件性能的高精度測量與分析。

技術領域

本發明涉及的是一種光纖器件的性能測試裝置。本發明還涉及一種光纖器件的性能測試方法。

背景技術

分布式光纖傳感技術由于具有同時獲取器件的空間上被測量分布信息的能力，白光干涉測量原理與技術的一個重要應用即表現在對光學波導與光纖器件的高精度測試與評估方面，一經出現就得到飛速的發展，其中光學相干域偏振測量技術(OCDP)和光學低相干域反射技術(OLCR)是分別針對器件的透射特性和反射特性進行測量的高精度分布式測量技術。

光學低相干域反射技術(OLCR)是基于光的背向散射進行傳感探測的一種分布式測量技術，也使用寬譜光源驅動干涉儀，適用于光學器件與波導內部的微弱反射信息定量化的測量。

光學相干域偏振測量技術(OCDP)基于寬譜光干涉原理，通過掃描式光學干涉儀進行光程補償，實現不同偏振模式間的干涉，可對偏振串擾的空間位置、偏振耦合信號強度進行高精度的測量與分析，進而獲得光學偏振器件的消光比、拍長等重要參數。

分布式光纖傳感技術，可真實描述信號光在光纖光路中的透射和反射行為，特別適合于對光纖器件、組件，以及高精度、超高精度干涉型光纖傳感光路進行測試和評估。其具有結構簡單、空間分辨率高、測量范圍大、測量靈敏度高等優點，如：意大利Melloni A等人發展的偏振敏感PS-OLCR，即在傳統透射式的OLCR的基礎上增加了偏振選擇性的光學低相干域反射計；美國通用光電公司(General Photonics Corporation)的姚曉天等人公開的一種用于保偏光纖和光學雙折射材料中分布式偏振串擾測量的全光纖測量系統(US20110277552，Measuring Distributed Polarization Crosstalk in PolarizationMaintaining Fiber and Optical Birefringent Material)。

在對器件的測試，單獨使用OLCR或OCDP時只能得到光束在器件中的反射或透射特性，為得到器件更為詳細的信息，需要同時研究其反射和透射特性。另外，為削弱外界干擾對測試的影響，對器件反射和透射特性的同步測量就更為關鍵。搭建一個可同時測量器件反射和透射特性的分布式裝置，對器件全面特性的測試而言具有重要意義。

發明內容

本發明的目的在于提供一種精度高、穩定可靠、測量全面的光纖器件的透射和反射性能測試裝置。本發明的目的還在于提供一種光纖器件的透射和反射性能測試方法。

本發明的光纖器件的透射和反射性能測試裝置包括寬譜光源501、光學相干域偏振測量技術(OCDP)的透射性能測試結構530、光學低相干反射技術(OLCR)的反射性能測試結構540、檢測與信號記錄裝置550、待測器件部分560，寬譜光源501將光束注入待測器件部分560中，待測器件部分560中的待測器件511分別產生透射光束560a和反射光束560b，透射光束560a注入光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構530中、將反射光束560b注入到光學低相干反射技術的反射性能測試結構540中，使用共用延遲部件519進行同時掃描，對兩結構中的干涉光信號進行測量，最后同時得到待測光纖器件的透射和反射特征。

本發明的光纖器件的透射和反射性能測試裝置還可以包括：