[發明專利]一種光纖器件的透射和反射性能測試裝置及方法有效
| 申請號： | 201610265283.1 | 申請日： | 2016-04-26 |
| 公開（公告）號： | CN105784336B | 公開（公告）日： | 2018-05-18 |
| 發明（設計）人： | 楊軍;梁帥;李創;苑勇貴;彭峰;吳冰;喻張俊;苑立波 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工程大學 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光纖 器件 透射 反射 性能 測試 裝置 方法 | ||
1.一種光纖器件的透射和反射性能測試裝置，其特征是：包括寬譜光源(501) 、光學相干域偏振測量技術(OCDP)的透射性能測試結構(530)、光學低相干反射技術(OLCR)的反射性能測試結構(540)、檢測與信號記錄裝置(550)、待測器件部分(560)，寬譜光源(501)將光束注入待測器件部分(560)中，待測器件部分(560)中的待測器件(511)分別產生透射光束(560a)和反射光束(560b)，透射光束(560a)注入光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構(530)中、將反射光束(560b)注入到光學低相干反射技術的反射性能測試結構(540)中，使用共用延遲部件(519)進行同時掃描，對兩結構中的干涉光信號進行測量，最后同時得到待測光纖器件的透射和反射特征。
2.根據權利要求1所述的光纖器件的透射和反射性能測試裝置，其特征是所述光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構(530)包括：透射光束(560a)經過第1檢偏器(515)檢偏后，由第1耦合器(516)分成兩束，分別注入光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構的掃描臂(524)與透射臂(525)中，所述掃描臂經過第1環行器(517)與第1準直透鏡(518)連接，經過共用延遲部件(519)掃描反射，最后兩束光在第2耦合器(521)發生干涉，經過第一探測器(522)、第二探測器(523)接收干涉信號。
3.根據權利要求1或2所述的光纖器件的透射和反射性能測試裝置，其特征是所述光學低相干反射技術的反射性能測試結構(540)包括：寬譜光源(501)經過第3耦合器(502)分成兩束，一束在低相干反射技術的反射性能測試結構的透射臂( 503)傳輸由第2環行器(509)進入待測器件(511)，反射光束(560b)依次經由第2環行器(509)、第2檢偏器(510)繼續在低相干反射技術的反射性能測試結構的透射臂(503)傳播；另一束作為參考光在低相干反射技術的反射性能測試結構的掃描臂( 508)傳輸，掃描臂經過第3環行器(507)與第2準直透鏡(506)連接；最后兩束光在第4耦合器(512)發生干涉，通過第三探測器(513)、第四探測器(514)接收干涉信號。
4.一種基于權利要求1所述的光纖器件的透射和反射性能測試裝置的測試方法，其特征是：
(1)對待測器件(511)的長度l
(2)在不計算延遲線掃描光程S的前提下，測量光學低相干反射技術的反射性能測試結構(540)中掃描臂(508)與透射臂(503)的各自總光程L
(3)對共用延遲部件(519)引入的掃描光程范圍S是否滿足S>S
(4)如果不滿足條件，則重新截取光學低相干反射技術的反射性能測試結構(540)的兩臂光纖長度，使其滿足步驟(3)中所需條件；
(5)對待測器件(511)前保偏光纖(s3)、后保偏光纖(s4)的長度分別進行測試，記為l
(6)在不計算可共用延遲部件(519)掃描光程范圍S的前提下，測量光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構(530)中掃描臂(524)與透射臂(525)的總光程L
(7)對可共用延遲部件(519)引入的掃描光程范圍S是否滿足S>L
(8)如果不滿足條件，則重新截取光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構(530)的兩臂光纖長度，使其滿足步驟(7)中所需條件；
(9)對光纖器件的透射和反射性能測試裝置進行連接，開啟寬譜光源(501)，對光纖器件的性能進行測試；
(10)利用光學相干域偏振測量技術的透射性能測試結構(530)中各段光纖的長度關系，獲得光纖器件的偏振串擾峰的信息；
(11)利用光學低相干反射技術的反射性能測試結構(540)中各段光纖的長度關系，獲得光纖器件的反射圖譜；
(12)通過對串擾峰和反射峰的綜合分析，得到偏振性能、色散特性、損耗特性、相干光譜特性等信息，完成器件測試。
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