[發明專利]一種測試存儲器的方法和裝置

有效

• 申請號: 201610252553.5
• 申請日: 2016-04-21
• 公開（公告）號: CN107305792B
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 胡洪
• 申請（專利權）人: 北京兆易創新科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 蘇培華

技術領域

本發明涉及存儲器技術領域，特別是涉及一種測試存儲器的方法和一種測試存儲器的裝置。

背景技術

存儲器由于容量大，器件密度高，存在嚴重的早期失效問題，且這個問題隨著存儲器工藝尺寸的縮小而加劇。存儲器的失效概率與使用次數之間的關系符合圖1所示浴缸曲線的特性，即開始使用時存儲器的失效概率高，當達到一定使用次數后存儲器的失效概率就會大幅降低，直到達到存儲器的使用壽命后，存儲器的失效概率會繼續升高。通過老化測試能夠提高存儲器的可靠性。老化測試即在存儲器出廠之前，對存儲器進行反復地擦除、寫、讀等操作，將早期失效的存儲器個體被檢測出來，這樣出廠時候的產品失效概率已經處于浴缸曲線的底部，失效概率大幅降低。

現有老化測試方法是使用老化測試設備，對存儲器依次進行擦、寫、校驗以及所需的其他操作，并循環特定的次數，從而篩除早期失效的存儲器個體。

但是，現有老化測試方法中還存在以下缺點：在批量生產存儲器的時候，需要用老化測試設備對存儲器進行反復的擦除、寫、讀等操作，時間很長，由于老化測試設備昂貴，而且單位時間的測試費用也比較昂貴，因此，現有老化測試方法的測試成本很高，造成存儲器產品成本上升。

發明內容

鑒于上述問題，本發明實施例的目的在于提供一種測試存儲器的方法和一種測試存儲器的裝置，以解決現有老化測試方法的測試成本很高，造成存儲器產品成本上升的問題。

為了解決上述問題，本發明實施例公開了一種測試存儲器的方法，所述存儲器包括自測試控制器，所述測試存儲器的方法包括以下步驟：將所述存 儲器與第一測試設備連接，通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令至所述存儲器；通過所述自測試控制器確定所述存儲器的各待測試功能，并根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，直至循環次數等于預設最大測試次數；將所述存儲器與第二測試設備連接，通過所述第二測試設備對所述存儲器進行全功能測試，并當任一功能測試失敗時，判斷所述存儲器失效。

可選地，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述啟動自測試指令中。

可選地，在所述通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令之前，還包括：設置所述啟動自測試指令中的所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息。

可選地，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述自測試控制器中。

可選地，所述通過所述自測試控制器根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，包括：當所述待測試功能為擦除操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行擦除操作；當所述待測試功能為寫操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行寫操作；當所述待測試功能為讀操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行讀操作。

可選地，在所述將所述存儲器與第二測試設備連接之前，還包括以下步驟：斷開所述存儲器與所述第一測試設備之間的連接。

為了解決上述問題，本發明實施例還公開了一種測試存儲器的裝置，所述存儲器包括自測試控制器，所述測試存儲器的裝置包括：指令發送模塊，用于將所述存儲器與第一測試設備連接，通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令至所述存儲器；第一測試模塊，用于通過所述自測試控制器確定所述存儲器的各待測試功能，并根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，直至循環次數等于預設最大測試次數；第二測試模塊，用于將所述存儲器與第二測試設備連接，通過所述第二測試設備對所述存儲器進行全功能測試，并當任一功能測試失敗時，判斷所述存儲器失效。

可選地，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的 信息集成在所述啟動自測試指令中。

可選地，在所述指令發送模塊之前，還包括：信息設置模塊，用于設置所述啟動自測試指令中的所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息。

可選地，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述自測試控制器中。

可選地，所述第一測試模塊包括：擦除操作單元，用于當所述待測試功能為擦除操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行擦除操作；寫操作單元，用于當所述待測試功能為寫操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行寫操作；讀操作單元，用于當所述待測試功能為讀操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行讀操作。

可選地，在所述第二測試模塊將所述存儲器與第二測試設備連接之前，還包括：