[發明專利]一種測試存儲器的方法和裝置有效
| 申請號： | 201610252553.5 | 申請日： | 2016-04-21 |
| 公開（公告）號： | CN107305792B | 公開（公告）日： | 2021-03-12 |
| 發明（設計）人： | 胡洪 | 申請（專利權）人： | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/50 | 分類號： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人： | 蘇培華 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 存儲器 方法 裝置 | ||
1.一種測試存儲器的方法，其特征在于，所述存儲器包括自測試控制器，所述測試存儲器的方法包括以下步驟：
將所述存儲器與第一測試設備連接，通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令至所述存儲器；
通過所述自測試控制器確定所述存儲器的各待測試功能，并根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，直至循環次數等于預設最大測試次數；
將所述存儲器與第二測試設備連接，通過所述第二測試設備對所述存儲器進行全功能測試，并當任一功能測試失敗時，判斷所述存儲器失效。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述啟動自測試指令中。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令之前，還包括：
設置所述啟動自測試指令中的所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述自測試控制器中。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過所述自測試控制器根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，包括：
當所述待測試功能為擦除操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行擦除操作；
當所述待測試功能為寫操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行寫操作；
當所述待測試功能為讀操作功能時，通過所述自測試控制器對所述存儲器進行讀操作。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述將所述存儲器與第二測試設備連接之前，還包括以下步驟：
斷開所述存儲器與所述第一測試設備之間的連接。
7.一種測試存儲器的裝置，其特征在于，所述存儲器包括自測試控制器，所述測試存儲器的裝置包括：
指令發送模塊，用于將所述存儲器與第一測試設備連接，通過所述第一測試設備發送啟動自測試指令至所述存儲器；
第一測試模塊，用于通過所述自測試控制器確定所述存儲器的各待測試功能，并根據所述各待測試功能對所述存儲器進行循環測試，直至循環次數等于預設最大測試次數；
第二測試模塊，用于將所述存儲器與第二測試設備連接，通過所述第二測試設備對所述存儲器進行全功能測試，并當任一功能測試失敗時，判斷所述存儲器失效。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述啟動自測試指令中。
9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，在所述指令發送模塊之前，還包括：
信息設置模塊，用于設置所述啟動自測試指令中的所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息。
10.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述各待測試功能對應的信息和所述預設最大測試次數對應的信息集成在所述自測試控制器中。
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