[發明專利]一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法

有效

• 申請號: 201610248794.2
• 申請日: 2016-04-20
• 公開（公告）號: CN105954789B
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: 吳喜軍;肖德濤;李志強;單健;周青芝
• 申請（專利權）人: 南華大學
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 長沙星耀專利事務所(普通合伙)43205
• 代理人: 許伯嚴

技術領域

本發明屬于放射性惰性氣體測量技術領域，涉及一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法。

背景技術

氡(包括²²²Rn和²²⁰Rn)屬于放射性惰性氣體，是天然輻射照射的主要來源之一。但²²²Rn/²²⁰Rn子體對環境所致劑量的貢獻遠大于²²²Rn/²²⁰Rn，“氡害”其實主要是氡子體的對人體的危害。為了準確地評價環境中²²²Rn/²²⁰Rn及其子體所致劑量與危害，需關注²²²Rn/²²⁰Rn子體的測量方法與裝置。

由于α能譜法具有測量準確度好、測量時間短、甑別能力強等特點，是目前常用的WLx、LCD-BWLM、EQF3200等²²²Rn/²²⁰Rn子體測量儀的基本原理方法，但采用α能譜法對收集有²²²Rn/²²⁰Rn子體的濾膜進行α能譜分析測量時會出現α能譜的漂移與α能譜峰的重疊現象，這將嚴重影響到²²²Rn/²²⁰Rn子體測量的準確性。

能譜法測量²²²Rn、²²⁰Rn及其子體時存在峰重疊的現象，即高能α粒子由于能量損失而進入低能α測量區，從而引起高能α粒子計數減小，低能α粒子計數增加。圖1是ORTECTα能譜儀在真空中測得的混合²²²Rn、²²⁰Rn子體的α能譜圖，現有技術指出在利用ORTECTα能譜儀進行常規性測量時，可以不考慮7.69MeVα粒子對6.0MeVα粒子、8.78MeVα粒子對6.0MeVα粒子、8.78MeVα粒子對7.69MeVα粒子的峰重疊。但如果測量環境的條件發生變化(如更換探測器、在空氣中測量、在較高的氣溶膠情況下測量)導致²²²Rn、²²⁰Rn子體的α能譜重疊比較嚴重時，將嚴重影響到氡子體測量的準確性。所以人們引入氡子體α能譜峰重疊修正因子對其進行計數的修正。通常情況下，α能譜峰重疊修正因子為一定值，此值在儀器出廠時應由廠商和校準部門給出。但有時由于長期使用或使用不當，儀器內的電子元器件逐漸損耗或損壞，其增益及前置放大器和線性放大器的參數值與校準時相比發生了變化，從而導致能量漂移。為此，在儀器檢定時需對α能譜峰重疊修正因子進行刻度。本文利用南華大學國家標準²²²Rn室及濃度穩定可調的²²⁰Rn室建立一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法。

圖2是采用多道脈沖幅度分析器得到的在非真空條件下測量混合²²²Rn、²²⁰Rn子體的α能譜截圖。可見在非真空條件下進行²²²Rn、²²⁰Rn子體的α能譜測量時，除需考慮²²²Rn子體RaA(²¹⁸Po)、RaC'(²¹⁴Po)的能譜峰存在峰重疊外，還需考慮²²⁰Rn子體ThC'(²¹²Po)8.78MeV能譜峰對²²²Rn子體RaA6.00MeV、RaC'7.69MeV能譜峰的重疊。

所以需要引入²²²Rn/²²⁰Rn子體α能譜峰重疊修正因子對其進行計數的修正。

發明內容

為實現上述目的，本發明提供一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法，解決了現有技術中存在的問題，提高了²²²Rn/²²⁰Rn子體活度濃度的測量準確度。

本發明所采用的技術方案是，一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法，按照以下步驟進行：

步驟1，調節氡室²²²Rn濃度至2000Bq/m³左右，對應的氡室內²²²Rn子體活度濃度穩定在200Bq/m³，²²⁰Rn子體活度濃度忽略；