[發明專利]一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法

有效

• 申請號: 201610248794.2
• 申請日: 2016-04-20
• 公開（公告）號: CN105954789B
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: 吳喜軍;肖德濤;李志強;單健;周青芝
• 申請（專利權）人: 南華大學
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 長沙星耀專利事務所(普通合伙)43205
• 代理人: 許伯嚴

1.一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法，其特征在于，按照以下步驟進行：

步驟1，調節氡室²²²Rn濃度至2000Bq/m³，對應的氡室內²²²Rn子體活度濃度穩定在200Bq/m³，²²⁰Rn子體活度濃度忽略；

步驟2，將²²⁰Rn室連接一個活度為3000Bq的高射氣系數固體²²⁰Rn源，調節²²⁰Rn子體水平至2000Bq/m³；

步驟3，氡子體測量儀裝填濾膜后從²²⁰Rn室采樣15min后，利用多道脈沖幅度分析器，采用1024道，測量氡子體測量儀的α能譜120min，取²²⁰Rn子體ThC″(²⁰⁸Tl)6.05MeV能譜峰計數區的上限作為²²²Rn子體RaA(²¹⁸Po)6.0MeV能譜峰的上閾值對應的道值LV₁；

步驟4，氡子體測量儀重新填裝濾膜后從²²²Rn室采樣15min后，靜置60min，利用多道脈沖幅度分析器進行6.0MeV能譜區計數區0-LV₁道、7.69MeV計數區LV₁-1023道60-120min時間段的α粒子計數N₁₁、N₁₂；

步驟5，更換濾膜重復步驟4，得到兩個計數區的計數值，按式(1)計算峰重疊因子θ₁；

設6.0MeV計數區計數為N₁₁，7.69MeV計數區計數為N₁₂，RaC'(²¹⁴Po)7.69MeVα粒子能譜峰計數區對RaA6.0MeV計數區重疊因子θ₁表示為：

步驟6，氡子體測量儀填裝濾膜后從²²²Rn室采樣15min，利用多道脈沖幅度分析器測量氡子體測量儀的α能譜105min，測定RaC'(²¹⁴Po)7.69MeV計數區的上閾值對應的道值LV₂；

步驟7，氡子體測量儀重新裝填濾膜后從²²⁰Rn室采樣15min后，靜置180min待²²²Rn子體衰變完后，利用多道脈沖幅度分析器測量RaA所在6.00MeV計數區0-LV₁道、RaC'所在7.69MeV計數區LV₁-LV₂道以及ThC'所在8.78MeV計數區LV₂-1023道120min的α粒子計數N₂₄、N₂₃、N₂₂；

步驟8，更換濾膜重復上述步驟7，得到三個計數區的計數值，最后按式(2)-式(3)式確定峰重疊因子θ₂、θ₃；

設全譜計數為N₂₁，8.78MeV計數區計數為N₂₂，6.05MeV計數區計數為N₂₃，此時在7.69MeV計數區計數為N₂₄，則8.78MeVα粒子計數慢化到6.0MeVα粒子計數區的峰重疊因子θ₂為：

8.78MeVα粒子對²²²Rn、²²⁰Rn混合情況下7.69MeVα計數段內的重疊因子θ₃表示為：

2.根據權利要求1所述的一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法，其特征在于，所述步驟3中，氡子體測量儀道值LV₁取538道。

3.根據權利要求1所述的一種氡子體測量儀α能譜峰重疊修正因子的準確刻度方法，其特征在于，所述步驟6中，氡子體測量儀道值LV₂取698道。