[發(fā)明專利]取向膜涂覆檢測(cè)方法及檢測(cè)設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610236589.4
• 申請(qǐng)日: 2016-04-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105652486B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐長(zhǎng)健;馬國(guó)靖;任錦宇;陸順沙
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種取向膜涂覆檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

讀取待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形；

獲取所述取向膜的圖形，并在將所述取向膜的圖形與儲(chǔ)存的所述待檢測(cè)基板的顯示區(qū)域的圖形對(duì)位后，測(cè)量所述取向膜的圖形的邊緣與所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣之間的距離；

所述讀取待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形的步驟包括：

對(duì)所述待檢測(cè)基板進(jìn)行加熱；

檢測(cè)所述待檢測(cè)基板上的取向膜所在區(qū)域和取向膜以外區(qū)域的溫度差異，并根據(jù)所述溫度差異生成所述待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取向膜涂覆檢測(cè)方法，其特征在于，所述讀取待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形的步驟還包括：

讀取第一基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息；

所述獲取所述取向膜的圖形，并在將所述取向膜的圖形與儲(chǔ)存的所述待檢測(cè)基板的顯示區(qū)域的圖形對(duì)位后，測(cè)量所述取向膜的圖形的邊緣與所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣之間的距離的步驟包括：

儲(chǔ)存所述待檢測(cè)基板的顯示區(qū)域的圖形和第二基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息；

獲取所述取向膜的圖形和所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息，并將所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)與所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)，以將所述取向膜的圖形與所述顯示區(qū)域的圖形對(duì)位；

在所述取向膜的圖形與所述顯示區(qū)域的圖形對(duì)位后，測(cè)量所述取向膜的圖形的邊緣與所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣之間的距離；

其中，所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)和所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)為所述待檢測(cè)基板上的同一位置點(diǎn)，當(dāng)該位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)在所在基板的取向膜的圖形上時(shí)，稱為第一基準(zhǔn)點(diǎn)，當(dāng)該位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)在所在基板的顯示區(qū)域的圖形上時(shí)，稱為第二基準(zhǔn)點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1～2任一項(xiàng)所述的取向膜涂覆檢測(cè)方法，其特征在于，所述取向膜涂覆檢測(cè)方法還包括：

接收測(cè)量的所述取向膜的圖形的邊緣上的各點(diǎn)到所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣上的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的距離數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的取向膜涂覆檢測(cè)方法，其特征在于，所述接收測(cè)量的所述取向膜的圖形的邊緣上的各點(diǎn)到所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣上的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的距離數(shù)據(jù)的步驟包括：

顯示所述取向膜的圖形的邊緣上的各點(diǎn)到所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣上的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的距離數(shù)據(jù)。

5.一種取向膜涂覆檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括：

讀取裝置，所述讀取裝置用于讀取待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形；

與所述讀取裝置信號(hào)連接的處理裝置，所述處理裝置內(nèi)儲(chǔ)存有所述待檢測(cè)基板的顯示區(qū)域的圖形，所述處理裝置用于獲取所述取向膜的圖形，并在將所述取向膜的圖形與所述顯示區(qū)域的圖形對(duì)位后，測(cè)量所述取向膜的圖形的邊緣與所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣之間的距離；

所述讀取裝置包括：

基臺(tái)，所述基臺(tái)用于承載所述待檢測(cè)基板；

設(shè)置于所述基臺(tái)內(nèi)的加熱單元，所述加熱單元用于對(duì)放置在所述基臺(tái)上的待檢測(cè)基板進(jìn)行加熱；

熱感應(yīng)器，所述熱感應(yīng)器用于檢測(cè)所述待檢測(cè)基板上的取向膜所在區(qū)域和取向膜以外區(qū)域的溫度差異，并根據(jù)所述溫度差異生成所述待檢測(cè)基板上的取向膜的圖形。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的取向膜涂覆檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述讀取裝置還包括位置讀取單元，所述位置讀取單元用于讀取第一基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息；

所述處理裝置包括：

存儲(chǔ)單元，所述存儲(chǔ)單元用于儲(chǔ)存所述待檢測(cè)基板的顯示區(qū)域的圖形和第二基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息；

與所述存儲(chǔ)單元、所述熱感應(yīng)器和所述位置讀取單元均連接的對(duì)位單元，所述對(duì)位單元用于獲取所述取向膜的圖形和所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)的位置信息，并將所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)與所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)，以將所述取向膜的圖形與所述顯示區(qū)域的圖形對(duì)位；

與所述對(duì)位單元連接的測(cè)量單元，所述測(cè)量單元用于在所述取向膜的圖形與所述顯示區(qū)域的圖形對(duì)位后，測(cè)量所述取向膜的圖形的邊緣與所述顯示區(qū)域的圖形的邊緣之間的距離；

其中，所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)和所述第二基準(zhǔn)點(diǎn)為所述待檢測(cè)基板上的同一位置點(diǎn)，當(dāng)該位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)在所在基板的取向膜的圖形上時(shí)，稱為第一基準(zhǔn)點(diǎn)，當(dāng)該位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)在所在基板的顯示區(qū)域的圖形上時(shí)，稱為第二基準(zhǔn)點(diǎn)。