[發(fā)明專利]探測器調(diào)試方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610223800.9
• 申請日: 2016-04-12
• 公開（公告）號: CN107290136B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蘇麗娟;袁艷;趙丁
• 申請（專利權(quán)）人: 北京航空航天大學(xué)
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張大威

本發(fā)明公開了一種探測器調(diào)試方法及裝置，其中，該方法包括：構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)，調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面；將成像系統(tǒng)置于參考平面；調(diào)整成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整成像系統(tǒng)中的光場光譜成像模塊探測器的第二旋轉(zhuǎn)角度；分別獲取在不同的第一旋轉(zhuǎn)角度和第二旋轉(zhuǎn)角度下，全色成像模塊探測器和光場光譜成像模塊探測器上的成像位置圖像；根據(jù)成像位置圖像確定全色成像模塊探測器和光場光譜成像模塊探測器的相對旋轉(zhuǎn)角度和相對位移量。該方法能夠有效控制兩個探測器的相對旋轉(zhuǎn)角度，保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測定圖像的位移誤差。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)成像技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種探測器調(diào)試方法及裝置。

背景技術(shù)

成像光譜儀是作為遙感探測技術(shù)之一，可以獲取的景物或目標(biāo)光譜信息，在目標(biāo)識別、特征提取和精確分類等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價值。其中光場光譜成像技屬于一次曝光即獲取目標(biāo)完整數(shù)據(jù)立方體的快照型成像光譜技術(shù)，在動態(tài)目標(biāo)監(jiān)測和追蹤方面快照型成像光譜技術(shù)具有優(yōu)勢和廣泛的應(yīng)用前景。另一方面，光場成像光譜技術(shù)由于需將三維數(shù)據(jù)投影到二維探測器上，其獲得的目標(biāo)場景空間分辨率大大降低。人們提出了共光路組合式光場光譜成像方法，一個反射光路獲得高空間分辨率的全色圖像，一個透射光路獲得光場光譜圖像，后續(xù)進(jìn)行圖像融合獲得高空間分辨率的光譜數(shù)據(jù)立方體。但是，由于系統(tǒng)兩個光路對應(yīng)各自獨(dú)立的探測器，而探測器的裝配誤差會導(dǎo)致融合圖像之間存在位移和旋轉(zhuǎn)誤差，進(jìn)而會影響圖像融合的效果。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的旨在至少在一定程度上解決上述的技術(shù)問題之一。

為此，本發(fā)明的第一個目的在于提出一種探測器調(diào)試方法。該方法能夠有效控制兩個探測器的相對旋轉(zhuǎn)角度，保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測定圖像的位移誤差，進(jìn)而融合圖像的效果很好。

本發(fā)明的第二個目的在于提出了一種探測器調(diào)試裝置。

為達(dá)上述目的，本發(fā)明第一方面實施例的探測器調(diào)試方法，包括以下步驟：S1，構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)，所述調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面；S2，將成像系統(tǒng)置于所述參考平面；S3，調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的全色成像模塊探測器的第一旋轉(zhuǎn)角度和調(diào)整所述成像系統(tǒng)中的光場光譜成像模塊探測器的第二旋轉(zhuǎn)角度；S4，分別獲取在不同的所述第一旋轉(zhuǎn)角度和所述第二旋轉(zhuǎn)角度下，所述全色成像模塊探測器和所述光場光譜成像模塊探測器上的成像位置圖像；S5，根據(jù)所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測器和所述光場光譜成像模塊探測器的相對旋轉(zhuǎn)角度和相對位移量。

本發(fā)明實施例的探測器調(diào)試方法，首先構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)，再將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)的參考平面進(jìn)而然后調(diào)整全色成像模塊探測器和光場光譜成像模塊探測器的成像位置圖像并分別計算出相對旋轉(zhuǎn)角度以及相對位移量。該方法能夠有效控制兩個探測器的相對旋轉(zhuǎn)角度，保證較小的旋轉(zhuǎn)誤差和測定圖像的位移誤差。

在本發(fā)明的一個實施例中，所述構(gòu)建調(diào)試系統(tǒng)，所述調(diào)試系統(tǒng)獲得與自準(zhǔn)直儀出射激光平行的參考平面具體包括所述調(diào)試系統(tǒng)包括自準(zhǔn)直儀、多齒分度臺、多維調(diào)整臺和方晶臺，所述多齒分度臺設(shè)置于水平平臺上，所述多維調(diào)整臺設(shè)置在所述多齒分度臺上，所述方晶臺設(shè)置在所述多維調(diào)整臺上；將所述成像系統(tǒng)置于所述多維調(diào)整臺上，所述成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的激光束。

在本發(fā)明的一個實施例中，所述多維調(diào)整臺為四維調(diào)整臺，將被調(diào)整成像系統(tǒng)置于所述四維調(diào)整臺上，所述被調(diào)整成像系統(tǒng)接收所述自準(zhǔn)直儀發(fā)出的十字叉絲，所述多齒分度臺繞二維空間中的Y軸旋轉(zhuǎn)，以使全色成像模塊探測器左右邊緣區(qū)域分別對所述十字叉絲進(jìn)行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場光譜成像模塊探測器左右邊緣區(qū)域分別對所述十字叉絲進(jìn)行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。