[發明專利]探測器調試方法及裝置

有效

• 申請號: 201610223800.9
• 申請日: 2016-04-12
• 公開（公告）號: CN107290136B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 蘇麗娟;袁艷;趙丁
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張大威

1.一種探測器調試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，構建調試系統，所述調試系統獲得與自準直儀出射激光平行的參考平面；

S2，將成像系統置于所述參考平面；

S3，調整所述成像系統中的全色成像模塊探測器的第一旋轉角度和調整所述成像系統中的光場光譜成像模塊探測器的第二旋轉角度；

S4，分別獲取在不同的所述第一旋轉角度和所述第二旋轉角度下，所述全色成像模塊探測器和所述光場光譜成像模塊探測器上的成像位置圖像；

S5，根據所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測器和所述光場光譜成像模塊探測器的相對旋轉角度和相對位移量。

2.如權利要求1所述的探測器調試方法，其特征在于，所述構建調試系統，所述調試系統獲得與自準直儀出射激光平行的參考平面具體包括：

所述調試系統包括自準直儀、多齒分度臺、多維調整臺和方晶臺，所述多齒分度臺設置于水平平臺上，所述多維調整臺設置在所述多齒分度臺上，所述方晶臺設置在所述多維調整臺上；

將所述成像系統置于所述多維調整臺上，所述成像系統接收所述自準直儀發出的激光束。

3.如權利要求2所述的探測器調試方法，其特征在于，所述多維調整臺為四維調整臺，將成像系統置于所述四維調整臺上，所述成像系統接收所述自準直儀發出的十字叉絲，所述多齒分度臺繞二維空間中的Y軸旋轉，以使全色成像模塊探測器左右邊緣區域分別對所述十字叉絲進行成像為第一十字叉絲圖像和第二十字叉絲圖像和使光場光譜成像模塊探測器左右邊緣區域分別對所述十字叉絲進行成像為第三十字叉絲圖像和第四十字叉絲圖像。

4.如權利要求3所述的探測器調試方法，其特征在于，所述多維調整臺為四維調整臺，根據所述成像位置圖像確定所述全色成像模塊探測器和所述光場光譜成像模塊探測器的相對旋轉角度和相對位移量具體包括：

讀取所述第一十字叉絲圖像和所述第二十字叉絲圖像并進行擬合計算獲得所述十字叉絲的第一水平直線v_水平＝a₁μ+b₁、第一豎直線v_豎直＝a₂μ+b₂、第二水平直線v_水平＝a₃μ+b₃和第二豎直線v_豎直＝a₄μ+b₄，其中，a₁、a₂、b₁和b₂分別為所述第一水平直線和所述第一豎直線的數學系數，a₃、a₄、b₃和b₄分別為所述第二水平直線和所述第二豎直線的數學系數，μ為方向系數，并分別計算出所述第一水平直線和所述第一豎直線的第一交點坐標為S₁(μ_S1',ν_S1)和所述第二水平直線和所述第二豎直線的第二交點坐標為S₂(μ_S2',ν_S2)；

讀取所述第三十字叉絲圖像和所述第四十字叉絲圖像并進行擬合計算獲得所述十字叉絲的第三水平直線t_水平＝a₅r+b₅、第三豎直線t_豎直＝a₆r+b₆、第四水平直線t_水平＝a₇r+b₇和第四豎直線t_豎直＝a₈r+b₈，其中，a₅、a₆、b₅和b₆分別為所述第三水平直線和所述第三豎直線的數學系數，a₇、a₈、b₇和b₈分別為所述第四水平直線和所述第四豎直線的數學系數，μ為方向系數，并分別計算出所述第三水平直線和所述第三豎直線的第三交點坐標P₁(r_P1',t_P1)和所述第四水平直線和所述第四豎直線的第四交點坐標P₂(r_P2',t_P2)；

所述全色成像模塊探測器與四維調整臺的夾角Δβ為：所述光場光譜成像模塊探測器與所述四維調整臺的夾角Δγ為：