[發明專利]一種集成SIP系統封裝架構在審
| 申請號: | 201610210959.7 | 申請日: | 2016-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN105789198A | 公開(公告)日: | 2016-07-20 |
| 發明(設計)人: | 喻明凡 | 申請(專利權)人: | 無錫矽瑞微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L25/16 | 分類號: | H01L25/16;H01L23/367;H01L23/31 |
| 代理公司: | 江蘇英特東華律師事務所 32229 | 代理人: | 朱清韻 |
| 地址: | 214072 江蘇省無錫市濱湖區建*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成 sip 系統 封裝 架構 | ||
1.一種高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的封裝結構包括第一基島、第二基島和 導熱焊盤,所述的第一基島和第二基島相互平行,所述的導熱焊盤設置于所述的第一基島 和第二基島下方,所述的第一基島上隔離排布有三顆MOS管和MCU芯片,所述的第二基島上 隔離排布有三顆MOS管,各個所述的MOS管與封裝結構的外接頭通過鍵合絲相連接。
2.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的封裝結構還包括塑 封體,所述的第一基島、第二基島均設置于所述的塑封體內。
3.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的鍵合絲包括鍵合絲 基體和包裹于所述的鍵合絲基體外的鍵合絲鍍層。
4.根據權利要求3所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的鍵合絲基體為銅絲 基體,所述的鍵合絲鍍層為金鍍層或鉑鍍層。
5.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的鍵合絲為直徑28~35 μm的鍵合絲。
6.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的封裝結構還包括兩 個彼此平行設置的基島支架,所述的第一基島和第二基島分別通過一基島支架設置于所述 的導熱焊盤上。
7.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的第一基島、第二基島 均為矩形,所述的導熱焊盤為圓形或矩形,所述的封裝結構的外接頭排布于所述的導熱焊 盤四周。
8.根據權利要求1所述的高密度SIP封裝結構,其特征在于,所述的MOS管和MCU芯片分 別粘結于所述的第一基島和第二基島上。
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