[發(fā)明專利]用于磁場(chǎng)感測(cè)設(shè)備的校準(zhǔn)方法、對(duì)應(yīng)系統(tǒng)、裝置和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610195569.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106483475B | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | R·巴索利;C·克里帕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 意法半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R33/00 | 分類號(hào): | G01R33/00;G01R33/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;張昊 |
| 地址: | 意大利阿格*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 磁場(chǎng) 設(shè)備 校準(zhǔn) 方法 對(duì)應(yīng) 系統(tǒng) 裝置 計(jì)算機(jī) 程序 產(chǎn)品 | ||
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