[發明專利]用于磁場感測設備的校準方法、對應系統、裝置和計算機程序產品有效
| 申請號： | 201610195569.7 | 申請日： | 2016-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN106483475B | 公開（公告）日： | 2020-06-05 |
| 發明（設計）人： | R·巴索利;C·克里帕 | 申請（專利權）人： | 意法半導體股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R33/00 | 分類號： | G01R33/00;G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 王茂華;張昊 |
| 地址： | 意大利阿格*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 磁場 設備 校準 方法 對應 系統 裝置 計算機 程序 產品 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于意法半導體股份有限公司，未經意法半導體股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610195569.7/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
