[發(fā)明專利]用于磁場(chǎng)感測(cè)設(shè)備的校準(zhǔn)方法、對(duì)應(yīng)系統(tǒng)、裝置和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品有效

申請(qǐng)?zhí)枺?/td>	201610195569.7	申請(qǐng)日：	2016-03-30
公開（公告）號(hào)：	CN106483475B	公開（公告）日：	2020-06-05
發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：	R·巴索利;C·克里帕	申請(qǐng)（專利權(quán)）人：	意法半導(dǎo)體股份有限公司
主分類號(hào)：	G01R33/00	分類號(hào)：	G01R33/00;G01R33/02
代理公司：	北京市金杜律師事務(wù)所 11256	代理人：	王茂華;張昊
地址：	意大利阿格***	國(guó)省代碼：	暫無信息
權(quán)利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關(guān)鍵詞：	用于磁場(chǎng) 設(shè)備校準(zhǔn) 方法對(duì)應(yīng) 系統(tǒng) 裝置計(jì)算機(jī) 程序產(chǎn)品
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