[發明專利]基準電壓源電路有效
| 申請號: | 201610191832.5 | 申請日: | 2016-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN105786081B | 公開(公告)日: | 2017-06-06 |
| 發明(設計)人: | 邵博聞 | 申請(專利權)人: | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號: | G05F3/26 | 分類號: | G05F3/26 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司31211 | 代理人: | 郭四華 |
| 地址: | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基準 電壓 電路 | ||
技術領域
本發明涉及一種半導體集成電路,特別是涉及一種基準電壓源電路。
背景技術
基準電壓源電路在集成電路中被廣泛應用,如圖1所示,是現有基準電壓源電路的電路結構圖;NMOS管MN101和MN102的柵極連接在一起且都連接到NMOS管MN101的漏極,NMOS管MN101的源極接地,NMOS管MN102的源極通過電阻R101接地;NMOS管MN101的漏極連接到由PMOS管MP101組成的電流路徑,NMOS管MN102的漏極連接到由PMOS管MP102組成的電流路徑,PMOS管MP101和MP102互為鏡像。NMOS管MN102的溝道寬長比要求大于NMOS管MN101的溝道寬長比,另外,NMOS管MN102的溝道寬長比和NMOS管MN101的溝道寬長比的比值為N。工作時,NMOS管MN101和MN102都工作于亞閾值區域,NMOS管的亞閾值區域的源漏電流具有如下特性:
由于NMOS管MN101和MN102工作在亞閾值區,MOS晶體管即NMOS管或PMOS管的亞閾值區的導通電流的公式為:
其中,ID為對應的MOS晶體管的漏電流;ID0為對應的MOS晶體管的特征電流,ID0和MOS晶體管的溝道的寬長比成正比且采用相同工藝形成的NMOS晶體管的特征電流為一常數且相同;VGS為MOS晶體管的柵源電壓;m為MOS管晶體管的亞閾值導通電流的非理想因子;VT為熱電壓,且具有正溫度系數,T表示絕對溫度,k為玻爾茲曼常數,q為電子電荷。
由圖1可知,電阻R101兩端的電壓差為,NMOS管MN101的柵源電壓VGS101和NMOS管MN102的柵源電壓VGS102的差,即:
VR101=VGS101-VGS102----------------------(2);
令PMOS管MP101和102具有相同的尺寸,將NMOS管MN101和MN102的寬長比代入到公式(1)并代入到公式(2)可得:
流過R101上的電流為:
可知,即VT具有正溫度系數,故VR101和IR101都具有正溫度系數。
在基準電壓輸出路徑中包括NMOS管MN103,電阻R102和PMOS管MP103,PMOS管MP103和MP101組成鏡像電路且令兩者尺寸相同。
由圖1可知,電阻R102和PMOS管MP103的漏極連接端輸出基準電壓VREF,NMOS管MN103工作于亞閾值區域,如果不設置電阻R102則NMOS管MN103的柵源電壓會大于閾值電壓而工作于飽和區;設置有電阻R102后NMOS管MN103會工作于亞閾值區域,利用工作于壓閾值區域的MOS晶體管如NMOS管或PMOS管的源漏電流以及柵源電壓都具有負溫度系數的特性,使輸出的基準電壓的正負溫度系數抵消從而和溫度無關,即:流過NMOS管MN103的源漏電流具有負的溫度特性,而流過PMOS管MP103的電流為IR101的鏡像電流從而具有正的溫度特性,兩者正負溫度系數會相互抵消從而實現。
圖1中的輸出路徑中需要采用電阻R102,在半導體集成電路中電阻會占用芯片較大的面積,這會降低芯片的集成度從而相對提高成本,而某些成本敏感應用對面積要求較高,所以應當相辦法減少電路的面積。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種基準電壓源電路,能減少面積。
為解決上述技術問題,本發明提供的基準電壓源電路包括:
偏置電路,包括第一NMOS管、第二NMOS管和第一電阻,所述第二NMOS管的溝道寬長比大于所述第一NMOS管的溝道寬長比,所述第一NMOS管的源極接地,所述第二NMOS管的源極通過所述第一電阻接地,所述第一NMOS管的漏極和柵極以及所述第二NMOS管的柵極都連接第一偏置電壓,所述第一NMOS管的漏極連接第一電流路徑,所述第二NMOS管的漏極連接第二電流路徑,所述第一電流路徑和所述第二電流路徑互為鏡像;所述第一NMOS管和所述第二NMOS管工作于亞閾值區域,在所述第一電阻和所述第二NMOS管的源極的連接端提供具有正溫度系數的第一級柵源電壓差,所述第一級柵源電壓差為所述第一NMOS管和所述第二NMOS管之間的柵源電壓差。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海華虹宏力半導體制造有限公司,未經上海華虹宏力半導體制造有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610191832.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:改進型的筆記本式計算機設備
- 下一篇:帶有補償電路的低壓差穩壓器





