[發明專利]一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備

有效

• 申請號: 201610191081.7
• 申請日: 2016-03-30
• 公開（公告）號: CN105675233B
• 公開（公告）日: 2017-12-19
• 發明（設計）人: 王國良;王楠
• 申請（專利權）人: 王國良
• 主分類號: G01M3/28
• 分類號: G01M3/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及密封性能測試機領域，尤其涉及一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備。

背景技術

三通接頭作為管件、管道連接件，一般用在主管道要分支管處，用于介質分流。工業用PE(聚乙烯)三通接頭的支口管通常是通過管件熔接而成，熔接處可能會因為熔接溫度、對接不平整等原因，出現泄漏情況，且三通接頭泄露集中發生在熔接處。而它作為燃氣管網重要的管道連接件，出現泄漏會有較大的安全隱患，因此使用前要求以壓縮氣體為介質進行密封性能試驗。

目前，三通接頭進行密封性能試驗通常采用水泡法和氣壓傳感器監控法，采用氣壓傳感器監控法，往往對三通接頭三個出口進行封堵，內部空腔加壓到預設值后保壓，通過氣壓傳感器監控內部氣壓變化，判斷空腔內氣壓是否降低，三通是否泄漏。但是有些三通接頭體積較大，如果只在三通接頭三個出口處進行封堵，內部空腔會較大，微小泄漏對內部氣壓的影響較小，氣壓傳感器容易發生誤判。

發明內容

本發明為了解決大型號三通接頭采用出口處封堵，內部空腔較大，氣壓傳感器不易判斷微泄露的問題，提出一種伸入三通接頭內部、縮小測試空腔、提高氣壓傳感器靈敏度的密封性能測試設備。

為了實現上述目的，本發明采用以下技術方案：一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，包括一底座，所述的底座上設有一個三通接頭的定位機構、一個密封性能測試機構、以及密封性能測試機構的推送機構；

所述的定位機構為一個橫向放置的圓筒，圓筒的內徑與三通接頭的主管外徑匹配，圓筒側壁上沿圓筒方向開設有一條三通接頭的支口管定位槽，所述的支口管定位槽往遠離推送機構一端延伸至圓筒端面；

所述的推送機構包括限位板、支撐板、滑軌機構和支撐板驅動機構，所述的滑軌機構沿圓筒方向設置，所述的限位板兩側定位在滑軌機構的滑塊上，與圓筒垂直設置，限位板朝圓筒一側固定有支撐板，另一側與支撐板驅動機構相連，支撐板通過支撐板驅動機構推送可伸至圓筒內部，所述的支撐板上設有密封性能測試機構；

所述的密封性能測試機構至少包括上端蓋組件、下端蓋組件、壓環組件和端蓋驅動機構；所述的上端蓋組件分為上端蓋和連軸，所述的上端蓋和連軸都呈圓柱體且中心軸線重合，沿中心軸線剖視呈“T”字形；所述的下端蓋組件由上往下依次為下端蓋、連接部、以及主管內壁密封塊，下端蓋為與上端蓋等外徑的圓柱體，下端蓋下端面通過連接部與主管內壁密封塊的上端面相連，主管內壁密封塊整體呈圓柱體，上端面為與三通主管內壁匹配的弧面，且下端蓋與主管內壁密封塊中心軸線重合，沿中心軸線剖視呈“工”字形；所述的主管內壁密封塊上還設有至少一個測試氣路通道；所述的下端蓋組件沿中心軸線貫穿設有與上端蓋組件的連軸匹配的通孔，連軸從上往下穿過下端蓋組件的中心通孔，并與一塊連接板固定，下端蓋組件可滑動地限制在上端蓋和連接板之間；所述的上端蓋和下端蓋相對面上都設有斜外緣部，兩個斜外緣部形成密封圈的限位擠壓槽，限位擠壓槽內設有支口管密封圈；所述的主管內壁密封塊的上端面上圍繞中心軸線開設有一條環形的密封圈定位槽，密封圈定位槽內設有主管內壁密封圈；所述的主管內壁密封塊外側套設有壓環組件，所述的壓環組件下側倒裝有若干塞打螺栓，塞打螺栓貫穿連接板與壓環組件固定，連接板和塞打螺栓之間滑動連接，連接板和壓環組件之間的塞打螺栓上套設有彈簧；所述的下端蓋組件通過若干連桿穿過連接板與端蓋驅動機構相連，端蓋驅動機構定位在推送機構的支撐板上。

作為優選，所述的壓環組件上表面為與三通主管內壁匹配的弧面，在不測試狀態，壓環組件上表面高于主管內壁密封塊上表面。

作為優選，所述的支撐板的下表面為與三通主管內壁匹配的弧面。

作為優選，所述的上端蓋和下端蓋相對面上的斜外緣部都為45°的倒角。

作為優選，所述的支撐板驅動機構和端蓋驅動機構都是氣缸。

因此，本發明具有如下有益效果：1、能夠縮小測試空腔，提高測試精度；2、自動化運作、測試效率高；3、結構聯動性強，制作成本低。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

圖2是本發明另一角度的結構示意圖。

圖3是本發明密封性能測試機構的結構示意圖。

圖4是本發明密封性能測試機構另一角度的結構示意圖。

圖5是本發明密封性能測試機構的主視圖。

圖6是本發明密封性能測試機構使用前的剖視圖。

圖7是本發明密封性能測試機構使用時的剖視圖。

圖8是本發明使用前的結構示意圖。