[發明專利]一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備

有效

• 申請號: 201610191081.7
• 申請日: 2016-03-30
• 公開（公告）號: CN105675233B
• 公開（公告）日: 2017-12-19
• 發明（設計）人: 王國良;王楠
• 申請（專利權）人: 王國良
• 主分類號: G01M3/28
• 分類號: G01M3/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，包括一底座（1），其特征在于：所述的底座（1）上設有一個三通接頭（5）的定位機構（2）、一個密封性能測試機構（3）、以及密封性能測試機構（3）的推送機構（4）；

所述的定位機構（2）為一個橫向放置的圓筒（201），圓筒（201）的內徑與三通接頭（5）的主管外徑匹配，圓筒（201）側壁上沿圓筒（201）方向開設有一條三通接頭（5）的支口管定位槽（202），所述的支口管定位槽（202）往遠離推送機構（4）一端延伸至圓筒（201）端面；

所述的推送機構（4）包括限位板（403）、支撐板（404）、滑軌機構（401）和支撐板驅動機構（402），所述的滑軌機構（401）沿圓筒（201）方向設置，所述的限位板（403）兩側定位在滑軌機構（401）的滑塊上，與圓筒（201）垂直設置，限位板（403）朝圓筒（201）一側固定有支撐板（404），另一側與支撐板驅動機構（402）相連，支撐板（404）通過支撐板驅動機構（402）推送可伸至圓筒（201）內部，所述的支撐板（404）上設有密封性能測試機構（3）；

所述的密封性能測試機構（3）至少包括上端蓋組件（301）、下端蓋組件（302）、壓環組件（303）和端蓋驅動機構（304）；所述的上端蓋組件（301）分為上端蓋（307）和連軸（310），所述的上端蓋（307）和連軸（310）都呈圓柱體且中心軸線重合，沿中心軸線剖視呈“T”字形；所述的下端蓋組件（302）由上往下依次為下端蓋（309）、連接部、以及主管內壁密封塊（305），下端蓋（309）為與上端蓋（307）等外徑的圓柱體，下端蓋（309）下端面通過連接部與主管內壁密封塊（305）的上端面相連，主管內壁密封塊（305）整體呈圓柱體，上端面為與三通主管內壁匹配的弧面，且下端蓋（309）與主管內壁密封塊（305）中心軸線重合，沿中心軸線剖視呈“工”字形；所述的主管內壁密封塊（305）上還設有至少一個測試氣路通道（6）；所述的下端蓋組件（302）沿中心軸線貫穿設有與上端蓋組件（301）的連軸（310）匹配的通孔，連軸（310）從上往下穿過下端蓋組件（302）的中心通孔，并與一塊連接板（306）固定，下端蓋組件（302）可滑動地限制在上端蓋（307）和連接板（306）之間；所述的上端蓋（307）和下端蓋（309）相對面上都設有斜外緣部，兩個斜外緣部形成密封圈的限位擠壓槽，限位擠壓槽內設有支口管密封圈（308）；所述的主管內壁密封塊（305）的上端面上圍繞中心軸線開設有一條環形的密封圈定位槽，密封圈定位槽內設有主管內壁密封圈（311）；所述的主管內壁密封塊（305）外側套設有壓環組件（303），所述的壓環組件（303）下側倒裝有若干塞打螺栓（313），塞打螺栓（313）貫穿連接板（306）與壓環組件（303）固定，連接板（306）和塞打螺栓（313）之間滑動連接，連接板（306）和壓環組件（303）之間的塞打螺栓（313）上套設有彈簧（312）；所述的下端蓋組件（302）通過若干連桿（314）穿過連接板（306）與端蓋驅動機構（304）相連，端蓋驅動機構（304）定位在推送機構（4）的支撐板（404）上。

2.根據權利要求1所述的一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，其特征在于：所述的壓環組件（303）上表面為與三通主管內壁匹配的弧面，在不測試狀態，壓環組件（303）上表面高于主管內壁密封塊（305）上表面。

3.根據權利要求1所述的一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，其特征在于：所述的支撐板（404）的下表面為與三通主管內壁匹配的弧面。

4.根據權利要求1所述的一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，其特征在于：所述的上端蓋（307）和下端蓋（309）相對面上的斜外緣部都為45°的倒角。

5.根據權利要求1至4中任一權利要求所述的一種熔接三通接頭的自動密封性能測試設備，其特征在于：所述的支撐板驅動機構（402）和端蓋驅動機構（304）都是氣缸。