[發明專利]一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法

有效

• 申請號: 201610186558.2
• 申請日: 2016-03-29
• 公開（公告）號: CN105651722B
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 潘春暉;張煊;劉濤;任園琴;彭曉鳳;雍玲
• 申請（專利權）人: 四川德成動物保健品有限公司
• 主分類號: G01N21/33
• 分類號: G01N21/33;G01N1/38
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 廖慧敏

1.一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)對照紫外指紋圖譜的建立：將3批以上合格的公英青藍合劑分別用純化水稀釋100倍以上，搖勻制得供試品，再以純化水為空白校零，利用紫外可見分光光度計進行掃描獲得紫外疊加圖譜，計算紫外疊加圖譜中的吸光度平均值，該吸光度平均值組成的指紋圖譜即為對照紫外指紋圖譜；

(2)確定相似度的下限值，以及波峰和波谷位置處的吸光度范圍值：采用3批以上合格公英青藍合劑，采用步驟(1)中相同的稀釋方法和掃描方法獲得合格品紫外圖譜，分別用每批公英青藍合劑的合格品紫外圖譜與對照紫外指紋圖譜進行對比計算出每批公英青藍合劑的相似度，進而得到相似度的下限值；同時通過統計合格品紫外圖譜的波峰和波谷位置處的吸光度得到吸光度的對照范圍值；

(3)將待測公英青藍合劑按照步驟(1)中的稀釋方法和掃描方法獲得樣品紫外圖譜；

(4)將樣品紫外圖譜與對照紫外指紋圖譜相同的分析方法進行相似度分析，當相似度不低于下限值，且波峰和波谷位置處的吸光度在對照范圍值內時判定為合格品；

所述步驟(1)中紫外可見分光光度計掃描的光譜條件為：

光譜帶寬：2.00nm，掃描范圍：200.00～900.00nm，光度模式：Abs，掃描間隔：1.00nm；

設相似度的下限值為V，該V的計算公式如下：

V＝D*(1-3％)，其中，D為合格品紫外圖譜的最低值。

2.根據權利要求1所述的一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法，其特征在于，所述樣品紫外圖譜與對照紫外指紋圖譜經過數據處理軟件“IBM SPSSstatistics”中雙變量相關“Kendall’s tau-b”分析計算相似度。

3.根據權利要求2所述的一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法，其特征在于，所述公英青藍合劑用純化水稀釋的倍數為1000倍，具體稀釋步驟為：

精密移取公英青藍合劑1mL加純化水稀釋至10mL，搖勻制成稀釋液，再精密移取1mL稀釋液加純化水稀釋至100mL，搖勻制得供試品溶液。

4.根據權利要求3所述的一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法，其特征在于，所述相似度的下限值為0.910。

5.根據權利要求3所述的一種基于紫外指紋圖譜的公英青藍合劑質量控制方法，其特征在于，所述對照紫外指紋圖譜中波峰的波長為317.00nm、282.00nm，波谷的波長為259.00nm；317.00nm處的吸光度范圍值為0.165～0.265，282.00nm處的吸光度范圍值為0.162～0.285，259.00nm處的吸光度范圍值為0.137～0.240。