[發(fā)明專利]一種朱墨時(shí)序斷層成像檢驗(yàn)儀

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610177569.4
• 申請(qǐng)日: 2016-03-25
• 公開（公告）號(hào): CN105606564A
• 公開（公告）日: 2016-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 秦達(dá);張寧;王曉光;黃威;黎智輝;郝紅光
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 公安部物證鑒定中心
• 主分類號(hào): G01N21/359
• 分類號(hào): G01N21/359;G01N21/3563
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 關(guān)暢;劉美麗

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種成像檢驗(yàn)儀，特別是關(guān)于一種朱墨時(shí)序斷層成像檢驗(yàn)儀。

背景技術(shù)

朱墨時(shí)序，是指文件上印章印文(一般為紅色，簡(jiǎn)稱朱)與書寫、打印或復(fù)印字 跡(一般為黑色，簡(jiǎn)稱墨)形成的先后順序。在我國，正式文件材料需要加蓋印章方 可生效，正常的形成順序?yàn)橄刃纬晌募?nèi)容再蓋印印文。近年來通過在空白紙張上先 蓋印印文再偽造文件內(nèi)容的違法案件數(shù)量急劇增多，對(duì)經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展造成了嚴(yán)重危害。 快速、準(zhǔn)確地確定朱墨時(shí)序已成為了當(dāng)前司法鑒定領(lǐng)域的現(xiàn)實(shí)需要。而且，隨著科技 的不斷進(jìn)步，書寫色料種類日趨多樣化，各種類型打印機(jī)也逐漸普及，朱墨時(shí)序的識(shí) 別也成為一大技術(shù)難題。

目前朱墨時(shí)序的識(shí)別方法是通過刀片剝離朱墨交叉處的色料觀察下層的色澤，但 這種方法需要極強(qiáng)的專業(yè)操作能力，不僅會(huì)破壞檢材，而且多數(shù)情況下無法得出正確 結(jié)論。而采用光學(xué)無損識(shí)別方法則不會(huì)對(duì)檢材造成破壞，目前通常采用顯微鏡直接觀 察法或熒光檢驗(yàn)法，但是這些常規(guī)光學(xué)檢驗(yàn)方法只能得到樣品表面的二維表觀形貌， 看不到立體堆積信息。而朱墨時(shí)序檢驗(yàn)主要目的是確認(rèn)印章印文與字跡的先后附著順 序，故其在紙張深度方向的立體堆積信息對(duì)于鑒定先后順序尤為重要。因此，除了獲 取樣品表面的二維形貌信息之外，獲取樣品深度方向的分層、立體、三維信息將有效 提高朱墨時(shí)序識(shí)別的準(zhǔn)確度，為鑒別文件的真實(shí)性、確定有無偽造事實(shí)提供新的判斷 標(biāo)準(zhǔn)和方法。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種能夠?qū)χ炷珮悠窌r(shí)序進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別的朱 墨時(shí)序斷層成像檢驗(yàn)儀。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案：一種朱墨時(shí)序斷層成像檢驗(yàn)儀，其 特征在于，該成像檢驗(yàn)儀包括一近紅外光源、一分光部件、一參考臂光學(xué)器件、一樣 品臂光學(xué)器件、一探測(cè)器和一數(shù)據(jù)采集處理裝置；所述近紅外光源發(fā)出的近紅外光通 過所述分光部件分為參考光和樣品光，所述參考光發(fā)送到所述參考臂光學(xué)器件，所述 樣品光經(jīng)所述樣品臂光學(xué)器件聚焦朱墨樣品，經(jīng)所述朱墨樣品散射或反射的光沿原路 返回與經(jīng)所述參考臂光學(xué)器件出射的光發(fā)生干涉，干涉光經(jīng)所述探測(cè)器發(fā)送到所述數(shù) 據(jù)采集處理裝置。

優(yōu)選地，所述近紅外光源采用中心波長為700nm～1500nm的寬譜帶近紅外光源， 當(dāng)所述近紅外光源采用寬譜帶近紅外光源時(shí)，還包括一光譜儀，所述干涉光經(jīng)所述光 譜儀檢測(cè)參考光和樣品光干涉后的干涉光光譜并發(fā)送到所述探測(cè)器。

優(yōu)選地，所述光譜儀包括一光纖準(zhǔn)直器、一光柵和一透鏡組，干涉光經(jīng)所述分光 器件發(fā)送到所述光纖準(zhǔn)直器，所述光纖準(zhǔn)直器將準(zhǔn)直后的光發(fā)射到所述光柵發(fā)生衍射 生成若干圖像條紋，圖像條紋經(jīng)所述透鏡組被所述探測(cè)器探測(cè)接收。

優(yōu)選地，所述近紅外光源采用近紅外掃頻光源。

優(yōu)選地，所述分光部件包括一光纖環(huán)形器和一耦合器，所述近紅外光源發(fā)出的近 紅外光發(fā)射到所述光纖環(huán)形器，經(jīng)所述光纖環(huán)形器出射的光經(jīng)所述耦合器按照設(shè)定的 分光比分成兩部分光。

優(yōu)選地，所述分光部件采用2×2耦合器，所述近紅外光源發(fā)出的近紅外光發(fā)射到 所述2×2耦合器按照設(shè)定的分光比分成兩部分光。

優(yōu)選地，所述參考臂光學(xué)器件包括一光纖準(zhǔn)直器、一聚焦透鏡和一平面反射鏡， 經(jīng)所述分光器件出射的一部分光分別經(jīng)所述光纖準(zhǔn)直器和聚焦透鏡聚焦到所述平面反 射鏡，經(jīng)所述平面反射鏡反射的光按照原光路返回。

優(yōu)選地，所述樣品臂光學(xué)器件包括一光纖準(zhǔn)直器、一二維電動(dòng)掃描系統(tǒng)、一物鏡 系統(tǒng)和一樣品臺(tái)，所述光纖準(zhǔn)直器將發(fā)散光束準(zhǔn)直為平行光發(fā)射到所述二維電動(dòng)掃描 系統(tǒng)，所述二維電動(dòng)掃描系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)光束二維掃描并將二維光束分別發(fā)送到所述物鏡系 統(tǒng)用于將光束聚焦到所述朱墨樣品上，所述樣品臺(tái)用于承載和固定待識(shí)別朱墨時(shí)序的 朱墨樣品。