[發明專利]一種面板的檢測方法及其檢測系統

有效

• 申請號: 201610173568.2
• 申請日: 2016-03-24
• 公開（公告）號: CN105589234B
• 公開（公告）日: 2018-09-11
• 發明（設計）人: 薛靜;朱紅;許倩文;谷玥;劉洪澤;趙亮;王海金
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

本發明公開了一種面板的檢測方法及其檢測系統，該方法包括：對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定測試樣品組中出現缺陷的面板；測試樣品組為包括未切割的多個面板的標準面板組；將測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定出現缺陷的面板中陣列基板的TFT的與柵極截止電壓值對應的漏電流值；若確定的漏電流值與預先確定的標準關態電流值之間的差值小于或等于設定閾值，判斷陣列基板的TFT合格；若否，則判斷未合格。本發明實施例提供的方法可以在未將標準面板組制成模組之前，及時判斷標準面板組中陣列基板的TFT是否合格，節約了工藝制程的時間，以及降低了成本。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤指一種面板的檢測方法及其檢測系統。

背景技術

目前，液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)具有高畫面質量、體積小、重量輕等優點，廣泛應用于移動電話、筆記本電腦、電視機以及顯示器等產品中。

薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)陣列基板中的TFT開關對液晶顯示有著極其重要的作用，TFT開關性能的優劣直接影響著液晶顯示品質的高低。但傳統的使用液晶技術的LCD顯示產品在進行信賴性測試時會出現大量的高溫污漬或者相鄰像素相互干擾(crosstalk)的問題，此批量性不良會給市場端造成低競爭力影響。現有的高溫信賴性測試方法一般是將產品制作成模組以后，投入到溫控箱(高溫存儲設備)中數個小時以上，出現高溫不良后會浪費大量模組資材。但此時產品的基板設計早已在前段完成，產品也經歷了從基板到模組的流程，周期很長，問題暴露后沒有足夠的時間進行設計和工藝變更。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供一種面板的檢測方法，可以在未將標準面板組制成模組之前，及時判斷標準面板組中陣列基板的TFT是否合格，節約了工藝制程的時間，以及降低了成本。

因此，本發明實施例提供了一種面板的檢測方法，包括：

對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定所述測試樣品組中出現缺陷的面板；所述測試樣品組為包括未切割的多個面板的標準面板組；

將所述測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定所述出現缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應的漏電流值；

若確定的所述漏電流值與預先確定的標準關態電流值之間的差值小于或等于設定閾值，判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT合格；若否，則判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT未合格。

在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述面板的檢測方法中，根據所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定所述出現缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應的漏電流值，具體包括：

對所述出現缺陷的面板中陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測試；所述測試點設置在所述陣列基板的非顯示區域且包含與顯示區域和柵極驅動電路的TFT形狀相同的TFT；

根據所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，在得到的TFT特性曲線中確定所述出現缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應的漏電流值。

在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述面板的檢測方法中，采用下述方式確定測試樣品組中出現缺陷的面板：

對所述測試樣品組中所有陣列基板加載柵極開啟信號；

在所述測試樣品組中的所有像素點被點亮時，控制溫度上升至預定溫度，確定在溫度上升的過程中出現不良現象的面板作為出現缺陷的面板。

在一種可能的實現方式中，在本發明實施例提供的上述面板的檢測方法中，對所述測試樣品組中所有陣列基板加載柵極開啟信號，具體包括：