[發(fā)明專利]基于表面波倏逝場(chǎng)的痕量液體或氣體折射率測(cè)量裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610155589.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105628651A | 公開(公告)日: | 2016-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉建華;張克;陶李 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/41 | 分類號(hào): | G01N21/41 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 表面波 倏逝場(chǎng) 痕量 液體 氣體 折射率 測(cè)量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于導(dǎo)波光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種痕量液體或氣體折射率測(cè)量裝置。
背景技術(shù)
材料的折射率的精密測(cè)量,以及基于折射率變化的傳感技術(shù),在許多方面,尤其是 生物技術(shù)中有很大的應(yīng)用。近年來,基于Bloch表面波(BlochSurfaceWave,BSW)的測(cè)量 及傳感技術(shù)的研究日益受到重視。BSW是存在于周期性多層介質(zhì)膜堆中的電磁波,基于光 波導(dǎo)效應(yīng),光場(chǎng)被限制在周期性的膜層中產(chǎn)生局域化增強(qiáng),并對(duì)其表面的倏逝波場(chǎng)也產(chǎn)生 相應(yīng)增強(qiáng)作用。這種倏逝場(chǎng)會(huì)隨著光波導(dǎo)的結(jié)構(gòu)參數(shù)的變化而發(fā)生很大的變化。因此可以 根據(jù)這種倏逝場(chǎng)的變化來測(cè)量或傳感光波導(dǎo)的參數(shù)變化情況。
目前,基于BSW的應(yīng)用,主要是基于固定的波導(dǎo)結(jié)構(gòu),通過測(cè)量耦合波的反射率隨 入射角的變化或入射光的波長(zhǎng)變化來獲得相應(yīng)的位于平面波導(dǎo)外的與周期性多層模接觸 的材料的參數(shù)。由于每次測(cè)量都需要進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)的光路對(duì)準(zhǔn)(入射角調(diào)節(jié)),因而整個(gè)測(cè) 量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜,并用存在大量的系統(tǒng)誤差和不穩(wěn)定因素。因此,研究一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)定, 測(cè)量靈敏的方法就成為迫切的需要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)量穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高、速度快的痕量液體或氣體 折射率測(cè)量裝置。
本發(fā)明提供的痕量液體或氣體折射率測(cè)量裝置,是基于表面波倏逝場(chǎng)技術(shù)的。其 中,關(guān)鍵在于構(gòu)造一個(gè)復(fù)合平面光波導(dǎo)結(jié)構(gòu),通過外加耦合透鏡,將測(cè)量光束導(dǎo)入平面光波 導(dǎo),形成穩(wěn)定的Bloch表面波導(dǎo)模場(chǎng)。再通過錐形光纖探頭,將表面波場(chǎng)耦合出平面波導(dǎo), 通過傳導(dǎo)光纖將光導(dǎo)入測(cè)量系統(tǒng)。當(dāng)波導(dǎo)參數(shù)發(fā)生變化時(shí),將導(dǎo)致表面波的倏逝場(chǎng)的變化。
有別于常規(guī)的基于Bloch表面波的測(cè)量和傳感系統(tǒng),本發(fā)明的特點(diǎn)在于通過波導(dǎo) 內(nèi)部間隙容納待測(cè)量物質(zhì),將待測(cè)量液體或氣體作為復(fù)合光波導(dǎo)的一部分。而測(cè)量對(duì)象是 測(cè)量波導(dǎo)表面波的倏逝場(chǎng),而非常規(guī)的測(cè)量入射光的反射率隨入射角的變化,或反射率峰 值隨入射光波長(zhǎng)的變化。因此,所構(gòu)造的平面光波導(dǎo)系統(tǒng)在測(cè)量校準(zhǔn)前進(jìn)行一次調(diào)準(zhǔn)光路, 后續(xù)測(cè)量無需任何部件運(yùn)動(dòng)。
本發(fā)明設(shè)計(jì)的基于表面波倏逝場(chǎng)強(qiáng)度變化的痕量液體或氣體折射率測(cè)量裝置,其 結(jié)構(gòu)如圖1所示,它包括:一個(gè)復(fù)合平面光波導(dǎo),棱鏡耦合機(jī)構(gòu),表面波倏逝場(chǎng)測(cè)量機(jī)構(gòu);其 中,所述復(fù)合平面光波導(dǎo)由波導(dǎo)襯底層3、導(dǎo)流層5、玻璃基底7、周期性介質(zhì)膜層8、波導(dǎo)覆蓋 層9從下往上依次復(fù)合構(gòu)成;所述棱鏡耦合機(jī)構(gòu)由測(cè)量光束1及半柱形耦合透鏡2構(gòu)成,該 半柱形耦合透鏡2與波導(dǎo)襯底層3配合連接;所述表面波倏逝場(chǎng)測(cè)量機(jī)構(gòu)由錐形光纖探頭 10、傳導(dǎo)光纖11及光電測(cè)量系統(tǒng)12依次連接構(gòu)成;導(dǎo)流層5有接入口4和接出口6,待測(cè)液體 或氣體經(jīng)由接入口4進(jìn)入波導(dǎo)結(jié)構(gòu)內(nèi),由接出口6導(dǎo)出。
本發(fā)明中,所述測(cè)量光束1為連續(xù)或脈沖激光光束。
本發(fā)明中,所述的半柱形耦合透鏡2可采用高折射率玻璃材料(折射率大于 1.52),用于將測(cè)量光束以倏逝場(chǎng)的形式耦合入復(fù)合平面光波導(dǎo)中。
本發(fā)明中,所述波導(dǎo)襯底層3可采用透明低折射率的材料,如石英(SiO2)。
本發(fā)明中,所述導(dǎo)流層5為一間距很窄上下平行的空隙,用于容納待測(cè)液體或氣 體。
本發(fā)明中,所述導(dǎo)流層接入口4及導(dǎo)流層接出口6為待測(cè)量液體或氣體的導(dǎo)入導(dǎo)出 口,可以采用密閉式,也可采用開放式。密閉式用于進(jìn)行主動(dòng)的導(dǎo)入,而開放式則可用于傳 感測(cè)量。
本發(fā)明中,所述玻璃基底7為一薄玻璃片。
本發(fā)明中,所述周期性介質(zhì)膜層8包括高/低折射率材料交替的周期薄膜層及其 附加層,材料為介質(zhì),如氧化鉭/石英交替的周期結(jié)構(gòu)薄膜層,或聚合物材料交替的周期結(jié) 構(gòu)薄膜層。
本發(fā)明中,所述波導(dǎo)覆蓋層9的材料可以采用玻璃或聚合物材料,其折射率低于周 期性介質(zhì)膜層8的折射率。
本發(fā)明中,所述錐形光纖探頭10可采用多模或單模光纖制備,折射率高于波導(dǎo)覆 蓋層9的折射率。
本發(fā)明中,所述傳導(dǎo)光纖11為一多模或單模光纖,用于傳輸從光纖探頭10耦合出 的光。
本發(fā)明中,所述光電測(cè)量系統(tǒng)12為一套光電轉(zhuǎn)換及測(cè)量顯示系統(tǒng),包括光電倍增 管、數(shù)模轉(zhuǎn)換,、數(shù)據(jù)采集,及電腦等,用于測(cè)量和分析由傳導(dǎo)光纖11傳輸而來的光強(qiáng)。
本發(fā)明優(yōu)點(diǎn):
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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