[發(fā)明專利]一種鐵基單晶超導(dǎo)微橋的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610152652.6 | 申請日: | 2016-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN105742478B | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王華兵;楊志保;孫漢聰;呂陽陽;李軍;吳培亨 | 申請(專利權(quán))人: | 南京大學(xué) |
| 主分類號: | H01L39/24 | 分類號: | H01L39/24 |
| 代理公司: | 南京申云知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32274 | 代理人: | 邱興天 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鐵基 制備 微橋 超導(dǎo)單晶 厚度可控 樣品制備 單晶 超導(dǎo)體 離子束刻蝕 超導(dǎo)微橋 制備工藝 氬離子束 金電極 可操作 熱蒸發(fā) 直接光 翻面 光刻 解理 刻蝕 成功率 平整 | ||
本發(fā)明公開了一種鐵基單晶超導(dǎo)體微橋的制備方法,在平整的鐵基超導(dǎo)單晶表面直接光刻圖形,通過氬離子束刻蝕控制樣品厚度,運用翻面技術(shù),經(jīng)過解理、熱蒸發(fā)金電極、光刻微橋圖形和離子束刻蝕,就可以得到理想厚度的鐵基超導(dǎo)單晶微橋樣品。該制備方法簡單、可操作、樣品厚度可控,可縮短樣品制備周期并提高樣品制備成功率。通過該制備工藝制備出的樣品具有厚度可控、高質(zhì)量、尺寸精度高等優(yōu)點。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及鐵基超導(dǎo)體制備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種鐵基單晶超導(dǎo)微橋的制備方法。
背景技術(shù)
2008年,日本的研究小組首次發(fā)現(xiàn)氟摻雜鑭氧鐵砷化合物在溫度低于26K時,表現(xiàn)出超導(dǎo)特性(Kamihara Y,et al.,J Am Chem Soc,2008,130:3296–3297)。隨后其他的研究小組也陸續(xù)發(fā)現(xiàn)超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度更高的鐵基高溫超導(dǎo)體材料。到目前為止,鐵基高溫超導(dǎo)體的最高超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度為56K(P.J.W.Moll,R.Puzniak,F.Balakirev et al.,Nat.Mater.9,628–633(2010))。這是第一種非銅基的高溫超導(dǎo)體,標(biāo)志著第二類高溫超導(dǎo)體的誕生。
鐵基超導(dǎo)體具有很多和銅氧化物高溫超導(dǎo)體類似的性質(zhì),例如具有準(zhǔn)二維的晶體結(jié)構(gòu)、對稱的超導(dǎo)序參量、低的載流子濃度、顯著的熱漲落效應(yīng)等。鐵基超導(dǎo)材料又具有金屬特性、高的超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度、比銅氧化物稍大的相干長度、較小的各向異性,且隨著摻雜量的變化很小、具有s波超導(dǎo)模型。這些特點便于電流通過晶界,有利于材料的實用化。由于鐵基超導(dǎo)體具有很高的上臨界磁場,其在強(qiáng)磁場應(yīng)用中的潛力非常大(Tarantini C,Gurevich A,Jaroszynski J,et al.,Phys Rev B,2011,84:184 522)。
研究材料的電輸運特性是超導(dǎo)材料應(yīng)用的基礎(chǔ),而微米或納米尺寸的電輸運特性往往是判斷材料特性的主要手段。高溫超導(dǎo)薄膜的超導(dǎo)機(jī)制仍然是一個懸而未決的問題。對薄膜的超導(dǎo)電性的影響可能是復(fù)雜的,襯底的應(yīng)變、晶體和襯底之間熱膨脹系數(shù)的不一致、金屬元素的摻雜濃度、不均勻的密度、界面效應(yīng)、薄膜的厚度等都可能是影響超導(dǎo)電性的因素(W.K.Wang,et al.,Appl.Phys.Lett.105,232602(2014))。因此研究鐵基超導(dǎo)體的本征超導(dǎo)電性,需要運用微加工技術(shù)制備超導(dǎo)單晶微橋。傳統(tǒng)的制備超導(dǎo)單晶微橋的方法比較費時且厚度不可控,因而不能得到理想厚度的超導(dǎo)單晶微橋,這對研究超薄鐵基超導(dǎo)體單晶造成了很大的障礙。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,本發(fā)明的目的是提供一種鐵基單晶超導(dǎo)微橋的制備方法,制備出厚度可控、高質(zhì)量的超薄鐵基超導(dǎo)微橋。
技術(shù)方案:為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為
一種鐵基單晶超導(dǎo)體微橋的制備方法:在平整的鐵基超導(dǎo)單晶表面直接光刻圖形,通過氬離子束刻蝕控制樣品厚度,運用翻面技術(shù),經(jīng)過解理、熱蒸發(fā)金電極、光刻微橋圖形和離子束刻蝕,就可以得到理想厚度的鐵基超導(dǎo)單晶微橋樣品。
所述的鐵基單晶超導(dǎo)體微橋的制備方法,包括以下步驟:
1)選用一塊鐵基超導(dǎo)FeTeSe單晶,用epoxy膠粘黏到硅基片上,使單晶的平整一面與硅片相貼合;把粘貼好的樣品置于110℃烘臺上烘烤1.5小時,使膠完全固化;
2)等樣品完全固定在硅基片后,用透明膠帶解理出新鮮平整的單晶平面,通過紫外光刻技術(shù),做出一個長度為230μm、寬度為210μm的圖形;
3)選用的光刻膠為AZ1500,旋涂條件為:勻膠機(jī)低轉(zhuǎn)速600r/min,高轉(zhuǎn)速6000r/min,光刻膠厚度為800nm;
4)把光刻后的樣品放入氬離子束刻蝕機(jī)中,刻蝕6分鐘;把刻蝕好的樣品置入丙酮中去除光刻膠,形成了一個厚度為90nm mesa結(jié)構(gòu);
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