[發(fā)明專利]一種鐵基單晶超導(dǎo)微橋的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610152652.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105742478B | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王華兵;楊志保;孫漢聰;呂陽陽;李軍;吳培亨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L39/24 | 分類號(hào): | H01L39/24 |
| 代理公司: | 南京申云知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32274 | 代理人: | 邱興天 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鐵基 制備 微橋 超導(dǎo)單晶 厚度可控 樣品制備 單晶 超導(dǎo)體 離子束刻蝕 超導(dǎo)微橋 制備工藝 氬離子束 金電極 可操作 熱蒸發(fā) 直接光 翻面 光刻 解理 刻蝕 成功率 平整 | ||
1.一種鐵基單晶超導(dǎo)體微橋的制備方法,其特征在于:在平整的鐵基超導(dǎo)單晶表面直接光刻圖形,通過氬離子束刻蝕控制樣品厚度,運(yùn)用翻面技術(shù),經(jīng)過解理、熱蒸發(fā)金電極、光刻微橋圖形和離子束刻蝕,就可以得到理想厚度的鐵基超導(dǎo)單晶微橋樣品;具體包括以下步驟:
1)選用一塊鐵基超導(dǎo)FeTeSe單晶,用epoxy膠粘黏到硅基片上,使單晶的平整一面與硅片相貼合;把粘貼好的樣品置于110℃烘臺(tái)上烘烤1.5小時(shí),使膠完全固化;
2)等樣品完全固定在硅基片后,用透明膠帶解理出新鮮平整的單晶平面,通過紫外光刻技術(shù),做出一個(gè)長度為230μm、寬度為210μm的圖形;
3)選用的光刻膠為AZ1500,旋涂條件為:勻膠機(jī)低轉(zhuǎn)速600r/min,高轉(zhuǎn)速6000r/min,光刻膠厚度為800nm;
4)把光刻后的樣品放入氬離子束刻蝕機(jī)中,刻蝕6分鐘;把刻蝕好的樣品置入丙酮中去除光刻膠,形成了一個(gè)厚度為90nm mesa結(jié)構(gòu);
5)通過翻面技術(shù)把樣品轉(zhuǎn)移粘貼到干凈的氧化鎂基底4上,用epoxy膠固定并置于90℃的烘臺(tái)上烘烤2小時(shí),使膠完全固化;
6)把翻面后的樣品重新用透明膠帶解理,將頂層的大塊單晶去掉,直至解理到只剩下mesa單晶,然后把樣品迅速放入蒸金儀中熱蒸發(fā)一層厚度為50nm金膜作為電極;
7)利用紫外曝光光刻技術(shù),在電極上刻出一個(gè)寬度為4μm,長度為20μm六端子圖形的微橋;
8)把光刻好的樣品放入離子束刻蝕機(jī)中,氬離子銑樣品12分鐘,把未被光刻膠保護(hù)的單晶全部刻蝕掉;
9)在丙酮中去除電極頂部的光刻膠后,再次通過光刻技術(shù)和離子束刻蝕技術(shù)去除微橋上的金膜,形成最終的FeTeSe超導(dǎo)單晶微橋。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L39-00 應(yīng)用超導(dǎo)電性的或高導(dǎo)電性的器件,專門適用于制造或處理這些器件或其部件的方法或設(shè)備
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H01L39-16 .在超導(dǎo)電和正常導(dǎo)電狀態(tài)之間可切換的器件
H01L39-22 .包含有一個(gè)不同材料結(jié)點(diǎn)的器件,例如約瑟夫遜效應(yīng)器件
H01L39-24 .專門適用于制造或處理包含在H01L 39/00組內(nèi)的器件或其部件的方法或設(shè)備





